TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA
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Chapitre 3. | Adaptation au cas des MCMs |<br />
Une methodologie pour le test des MCMs munis du Boundary Scan Partiel a ete<br />
proposee dans [HaW92]. Cependant, le scenario propose permet seulement d'eectuer<br />
le test des fautes de type (5) et (6), alors que pour le diagnostic, il se limite aux conglomerats<br />
contr^olant des entrees primaires et delivrant des sorties primaires erronees.<br />
Par contre, la methode que nous proposons ne se limite pas seulement au test et diagnostic<br />
des six types de fautes precedemment enumeres, mais elle essaye de le faire<br />
de maniere simultanee au lieu de le faire sequentiellement (excepte pour les fautes du<br />
type (6) ou les moyens d'acces sont utilises pour le test conjoint des puces Boundary<br />
Scan et des interconnexions).<br />
Description Globale<br />
du<br />
MCM<br />
Décomposition en<br />
Conglomérats<br />
Simulation<br />
sans Fautes<br />
Simulation<br />
de Fautes<br />
Génération<br />
de la netlist<br />
Base de<br />
Données du Test<br />
Génération de la<br />
Matrice de Couverture<br />
Autres<br />
Conglomérats<br />
Méthode de Diagnostic choisie<br />
conglomérat i<br />
MATRICE<br />
Ordonnancement des séquences de test<br />
Génération des vecteurs pour le BS<br />
Génération de la Séquence Finale<br />
pour le MCM<br />
Application de la Séquence de Test<br />
Détection de Fautes<br />
Figure 3.7: Methodologie Adaptee aux MCMs<br />
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