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TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

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Chapitre 3. | Adaptation au cas des MCMs |<br />

Une methodologie pour le test des MCMs munis du Boundary Scan Partiel a ete<br />

proposee dans [HaW92]. Cependant, le scenario propose permet seulement d'eectuer<br />

le test des fautes de type (5) et (6), alors que pour le diagnostic, il se limite aux conglomerats<br />

contr^olant des entrees primaires et delivrant des sorties primaires erronees.<br />

Par contre, la methode que nous proposons ne se limite pas seulement au test et diagnostic<br />

des six types de fautes precedemment enumeres, mais elle essaye de le faire<br />

de maniere simultanee au lieu de le faire sequentiellement (excepte pour les fautes du<br />

type (6) ou les moyens d'acces sont utilises pour le test conjoint des puces Boundary<br />

Scan et des interconnexions).<br />

Description Globale<br />

du<br />

MCM<br />

Décomposition en<br />

Conglomérats<br />

Simulation<br />

sans Fautes<br />

Simulation<br />

de Fautes<br />

Génération<br />

de la netlist<br />

Base de<br />

Données du Test<br />

Génération de la<br />

Matrice de Couverture<br />

Autres<br />

Conglomérats<br />

Méthode de Diagnostic choisie<br />

conglomérat i<br />

MATRICE<br />

Ordonnancement des séquences de test<br />

Génération des vecteurs pour le BS<br />

Génération de la Séquence Finale<br />

pour le MCM<br />

Application de la Séquence de Test<br />

Détection de Fautes<br />

Figure 3.7: Methodologie Adaptee aux MCMs<br />

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