TH ESE Mohamed H edi TOUATI TEST ET ... - Laboratoire TIMA

Chapitre 1. | L'approche "Boundary Scan" |
Pour ces diverses raisons, l'adoption de la norme IEEE 1149.1 [IEEE90] plus connue
sous le label "Boundary Scan" est intervenue en 1990. Il s'agit de la denition
d'une architecture qui permet le test a plusieurs niveaux hierarchiques (circuit, carte
et systeme) sans se soucier du probleme d'acces mecanique aux nuds internes. Cette
approche permet aussi l'elaboration d'une strategie globale de test independante de
l'origine industrielle du produit. Elle presente deux modes d'operation majeurs qui
sont:
, Le mode \Non invasive" dans lequel le dispositif de test est completement transparent
par rapport a l'application.
, Le mode \Pin Permission" pendant lequel la logique interne de l'application est
isolee du monde exterieur.
1.2 L'architecture Boundary Scan
La gure 1.1 montre l'architecture generale d'une carte munie du dispositif BS.
Broche E/S
Cellule BS
Chemin BS
TDI
Circuiterie du bus de test BS
S in
TMS
TCK
TDO
T
A
P
M
U
X
Registres Optionnels
Registre d’instructions
Registre de Bypass
(éventuellement
avec du BIST
ou des registres
de Scan)
Sout
Logique
Interne
Figure 1.1: Architecture generale d'une carte BS
Les principaux elements qui entrent dans sa composition sont les suivants :
1. La cellule "Boundary Scan" de base
2. Le bus de test
3. Le contr^oleur de bus de test
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