Proceedings - Viện Vật lý

Advances _________________________________________________________________________________in Optics, Photonics, Spectroscopy and Applications. Aug. 2006, Cantho, Vietnam(a)(b)Hình 4: Thiết bị làm việc tại tần số quay T1 (a) tương ứng với vết tự tương quan cường độtrên dao động kí của xung laser Nd:YVO 4 mode-locking (b)Trong đó: T là chu kì của hệ gương quay M 1 và M 2 . R = 7.5 10 -2 m là bán kính trụcquay của hệ. Từ (10) thấy rằng, với tần số quay khác nhau vết tự tương quan có độrộng khác nhau.Trong trường hợp đo của hình 4, độ rộng xung là: 12,28 ps.Trong ổn định cơ-quang cho phép, các phép đo đã được thực hiện ở những tầnsố quay khác nhau nhỏ hơn 5 Hz. Độ rộng trung bình của xung laser cần đo là 12,40ps, với sai số là 0.36 ps (tương ứng 3%).Thiết bị đo vết tự tương quan cường độ này, sau khi đơn giản chỉnh lại cấu hìnhquang học, cũng có thể hoạt động tốt ở chế độ đo vết tự tương quan giao thoa. Khikết hợp với một dao động ký nhanh (100 MHz), thiết bị đã cho phép đo các vết tựtương quan của xung laser mode-locking (hình 5). Với phép đo vết tự tương quangiao thoa này, độ rộng xung laser thu được là 12,34 ps.Như vậy, thông qua các vết tự tương quan cường độ hoặc giao thoa được thểhiện “liên tục” trên dao động kí, chúng ta xác định “tức thời” được độ rộng của cácxung laser cần đo và do vậy, thiết bị đã được sử dụng hiệu quả để tối ưu hoạt độngcủa các laser mode-locking được chế tạo [5].(a)(b)Hình 5: Thiết bị làm việc ở chu kì quay T 2 (a) tương ứng với vết tự tương quan giao thoacủa các xung laser Nd:YVO 4 mode-locking (b)307