Proceedings - Viện Vật lý

_________________________________________________________________________________Những tiến bộ trong Quang học, Quang tử, Quang phổ và Ứng dụng. 8/2006, Cần Thơ, Việt Nam3,368 eV (15 K) theo sự tăng của nhiệt độ và tồn tại cho đến nhiệt độ phòng. Đỉnhnày có nguồn gốc từ sự tái hợp bức xạ của một hạt tải điện liên kết trên một saihỏng và một hạt tải điện tự do (BF) [6]. Khi nhiệt độ tăng, dải rộng 3,201 eV (15 K)bị dịch mạnh về phía năng lượng thấp và tồn tại cho đến nhiệt độ 150 K (hình 4a).Đỉnh này do sự tái hợp bức xạ của các cặp dono – aceptor (DAP) tạo ra [6]. Tươngtự như các đỉnh phát xạ khác, khi nhiệt độ tăng, đỉnh 3,242 eV (50 K) cũng bị dịchvề phía năng lượng thấp. Đáng lưu ý, ở cùng một nhiệt độ đo khoảng cách giữa đỉnhnày và BF luôn không đổi, cỡ 71 meV xấp xỉ bằng năng lượng của phonon quangdọc học, nên có thể gắn đỉnh 3,242 eV (50 K) với lặp lại phonon LO của BF [6].Đỉnh phát xạ ở năng lượng cao nhất 3,371 eV (75 K), quan sát thấy khi đỉnh D o X bịsuy yếu và tồn tại cho đến nhiệt độ phòng, được giải thích là do sự tái hợp bức xạcủa các exciton tự do (X A ) [2].Hình 5. Phổ huỳnh quang của mẫu x = 0,10 đo tại các nhiệt độ khác nhau, E ex = 3,815 eVHình 5a đưa ra phổ huỳnh quang của mẫu ứng với x = 0,10 đo tại các nhiệt độkhác nhau. Tương tự như mẫu x = 0,01, khi nhiệt độ đo mẫu tăng, cường độ của cácđỉnh huỳnh quang giảm và vị trí đỉnh dịch về phía năng lượng thấp.Tại cùng mộtnhiệt độ đo, ta thấy vị trí các đỉnh phát xạ hẹp của mẫu x = 0,10 trùng với mẫu x =0,01, nhưng vị trí đỉnh phát xạ dải rộng của chúng lại lệch nhau một lượng đáng kể.Vị trí đỉnh phát xạ dải rộng của mẫu x = 0,10 luôn ở phía năng lượng cao hơn so vớimẫu x = 0,01 (hình 4a và 5a), nguyên nhân của hiện tượng này còn là vấn đề mở.Hình 6. Phổ huỳnh quang đo tại các nhiệt độ khác nhau, E ex = 2,194 eV48