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Ergebnisse und Diskussion 160
Intensität [willk. Einheiten]
dQ/dt
XEOL
TEY
NEXAFS
405 410 415 420 425
Photonenenergie [eV]
CdSe/ZnS
im Polymertropfen
CdSe/ZnSdotierte
Silica-Kolloide
CdSe-NP
Abbildung 5.37: XEOL- und TEY Spektren von CdSe/ZnS-dotierten Silica-Kolloiden
(r = 225 nm) im Vergleich zum Ladestrom dQ/dt der Aufladungskurve,
die an den im Siloxan-Block/Graft-Copolymer dispergierten
CdSe/ZnS-NP im Bereich der Cd 3d-Kante (405 – 425 eV) aufgenommen
wurden. Als Referenz ist ein NEXAFS-Spektrum von CdSe-NP
mit einem Partikelradius von 1.6 nm auf einer Silizium-Oberfläche
abgebildet (graue Linie). 144
Silica bzw. dem Polymer stark vermindert. Stärker ausgeprägte Strukturen im
Spektrum der CdSe/ZnS-NP im Polymertropfen können einerseits durch höhere
Konzentration von Nanopartikeln im Tropfen erklärt werden (s. oben). Anderseits
kann dies daran liegen, dass das NEXAFS-Spektrum durch die Ableitung der
Aufladungskurve nach der Zeit erhalten wurde (s. Diskussion s. 144).
Bei den XEOL-Messungen an der Zn L-Kante (1020 – 1050 eV) wurden nur stark
verrauschten Spektren erhalten, die keine präzise Auswertung der Daten
erlauben, was vor allem am geringen Absorptionsquerschnitt an der Zn 2p-Kante
liegt. Aus diesem Grund wurde die Röntgenabsorptionsfeinstruktur an dieser
Kante nur durch die Detektion der totalen Elektronenausbeute bestimmt