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Spinwellenanregung in magnetischen Nanohybridstrukturen (31,8 ...

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Reales Probendesign und Herstellungsprozess<br />

4.1.8 Reales Probendesign und Herstellungsprozess<br />

In diesem Abschnitt wird das Design der realen Proben und deren Herstellung beschrieben<br />

sowie Schwierigkeiten <strong>in</strong> der Realisierung der für die Simulationen verwendeten Designs<br />

diskutiert. Die Charakterisierung dieser Proben mittels µBLS ermöglicht die experimentelle<br />

Verifizierung der <strong>in</strong> den Abschnitten 4.1.1 bis 4.1.7 vorgestellten numerischen Ergebnisse.<br />

Alle im Folgenden beschriebenen Proben wurden im NBC 1 der TU Kaiserslautern und den<br />

MBE 2 -Anlagen der AG Hillebrands prozessiert, die Herstellung selbst wurde dabei maßgeblich<br />

von Philipp Pirro 3 durchgeführt. Als Substrat wurden 7 × 7 mm 2 große, thermisch oxidierte<br />

Silizium-Stücke Si (110)/SiO x verwendet. Die Probenprozessierung besteht aus e<strong>in</strong>er<br />

Komb<strong>in</strong>ation von Elektronenstrahllithographie <strong>in</strong> lift-off -Technik und Elektronenstrahlverdampfung<br />

und gliedert sich im Wesentlichen <strong>in</strong> 5 Schritte:<br />

In Schritt 1 werden die sogenannten alignment marks aus Gold auf dem Substrat def<strong>in</strong>iert,<br />

die e<strong>in</strong>e präzise Positionierung des Substrats <strong>in</strong> den folgenden Prozessschritten ermöglichen.<br />

In Schritt 2 werden die Cu-Elemente, die sich unterhalb des Ni 81 Fe 19 -Streifens bef<strong>in</strong>den,<br />

mit e<strong>in</strong>er Cu-Schichtdicke von 20 bzw. 60 nm prozessiert. In Schritt 3 wird der Ni 81 Fe 19 -<br />

Streifen mit e<strong>in</strong>er Schichtdicke von 47 bzw. 10 nm und <strong>in</strong> Schritt 4 die oberen Cu-Elemente<br />

ebenfalls mit e<strong>in</strong>er Dicke von 20 bzw. 60 nm strukturiert. In Schritt 5 werden die deutlich<br />

dickeren Cu-Kontakte mit e<strong>in</strong>er Schichtdicke von e<strong>in</strong>igen 100 nm aufgebracht, welche die<br />

gewünschte elektrische Kontaktierung erlauben. Für die Nanostrukturierung mittels Elektronenstrahllithographie<br />

wird der elektronensensitive Lack Polymethylmethacrylat PMMA<br />

mit e<strong>in</strong>em Molekulargewicht von 950k im Positivprozess verwendet, das heißt, dass beim<br />

Übertragen der Struktur <strong>in</strong> den Lack alle belichteten Bereiche abgelöst werden und so die<br />

Positiv-Maske für die Metallstruktur entsteht. Die Cu-Schichten wurden im NBC mittels<br />

Elektronenstrahlverdampfung mit e<strong>in</strong>er Rate von 1 Å/s (für die Cu-Elemente) bzw. 10 Å/s<br />

(für die Cu-Kontakte) aufgedampft. Die Ni 81 Fe 19 -Schichten wurden <strong>in</strong> den MBE-Masch<strong>in</strong>en<br />

der AG Hillebrands mit e<strong>in</strong>er Rate von 0,2 Å/s gewachsen.<br />

Abbildung 4.15 zeigt Schemata der beiden realisierten Probendesigns mit Darstellungen der<br />

Ni 81 Fe 19 -Streifengruppen verschiedener Breite. Die Cu-Zuleitungen beider Probentypen (<strong>in</strong><br />

orange dargestellt) haben aus Gründen der Impedanzanpassung die Form e<strong>in</strong>es koplanaren<br />

Wellenleiters. Auf dessen drei Kontaktflächen kann e<strong>in</strong>e sogenannte Picoprobe 4 aufgesetzt<br />

und die Struktur auf diese Weise mit e<strong>in</strong>em Mikrowellengenerator verbunden werden. E<strong>in</strong>e<br />

dünne Titanschicht auf dem SiO 2 -Substrat erwies sich hier als geeigneter Haftvermittler,<br />

der e<strong>in</strong> zu schnelles Ablösen des Cu bei Beanspruchung durch die aufsetzende P icoprobe-<br />

1 Nano+Bio Center<br />

2 Molecular Beam Epitaxy<br />

3 Diplomand <strong>in</strong> der AG Hillebrands<br />

4 Mikrowellenkonnektor zur impedanzangepassten Kontaktierung von Mikrostrukturen<br />

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