Spinwellenanregung in magnetischen Nanohybridstrukturen (31,8 ...

Reales Probendesign und Herstellungsprozess
Spitze verhindert. Mit dieser Kontaktierung ist es nun möglich, einen Mikrowellenstrom mit
überlagertem Gleichstrom an die Struktur anzulegen, wobei der Gleichstrom im Probentyp
2 über das T-Stück und die gezeigte DC-Ableitung (in der Vergrößerung links) und
in Probentyp 1 über die Ni 81 Fe 19 -Streifen abgeführt wird. Auf den Ni 81 Fe 19 -Streifen (in der
Vergrößerung in grau dargestellt) befinden sich jeweils mehrere Dutzend Cu-Elemente (orange),
deren Abstand voneinander ihrer Länge entspricht. Eine solche Anzahl von Inseln ist
nötig, da die Ausdehnung der Cu-Element-Gruppe mit der Breite eines später erzeugten
Spinwellen-Pulses korreliert ist. Für die µBLS mit ihrer räumlichen Auflösung von 250 nm
und speziell für zeitaufgelöste BLS-Messungen ist eine gewisse Mindestbreite der zu untersuchenden
Spinwellen-Pulse unerlässlich.
T-Stück mit DC-Ableitung
alignment mark
Probentyp 2
Probentyp 1
DC
+
+
Kurzschluss oder Terminator
+
+
+
+
+
+
MW
MW
MW / DC
MW / DC
200 400 600 800
nm nm nm nm
Abbildung 4.15: Schematische Darstellung der realen Probengeometrie. Probentyp 2 besteht
aus 4 Gruppen von Ni 81 Fe 19 -Streifen (hier in grau dargestellt) verschiedener Breite
(200, 400, 600, 800 nm), auf denen sich wiederum Cu-Elemente (orange) verschiedener
Länge (ebenfalls 200 bis 800 nm) befinden. Zudem enthält jede Gruppe noch einen
Ni 81 Fe 19 -Streifen entsprechender Breite ohne Elemente als Referenz. In diesem Probentyp
wurde außerdem ein T-Stück aus Ni 81 Fe 19 zur alternativen Spinwellen-Anregung integriert
(s. Abschnitt (4.2)). Die elektrische Kontaktierung findet mittels eines koplanaren Wellenleiters
aus Cu (orange) statt, über den Mikrowellenströme durch die Ni 81 Fe 19 -Streifen
und ein DC-Strom über den Seitenarm des T-Stücks geführt werden können. Probentyp 1
enthält kein T-Stück und keine Referenz-Streifen ohne Cu, die Ni 81 Fe 19 -Streifengruppen
sind aber im Übrigen mit denen vom Probentyp 2 identisch. Es wurden Proben mit 47 nm
und 10 nm dickem Ni 81 Fe 19 hergestellt. (Die reale Anzahl der Cu-Elemente pro Ni 81 Fe 19 -
Streifen ist in dieser Abbildung reduziert. Die Lücke im linken Außenleiter hat keinen
Einfluss auf die Impedanzanpassung [93])
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