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Photovoltaik Physik und Technologie der Solarzellen - IPHT Jena

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- 34 -<br />

Bei amorphem Silicium gibt es infolge <strong>der</strong> Unordnung keine scharfe Bandlücke. Die Zustandsdichte<br />

nimmt aber doch in einem Gebiet, das bei kristallinem Silicium <strong>der</strong> Bandlücke entspricht,<br />

stark ab (Abb. 4.8). Die Zustände in den Bän<strong>der</strong>n sind wie die im kristallinen Material<br />

delokalisiert <strong>und</strong> die Elektronen <strong>und</strong> Löcher sind dort beweglich. Innerhalb <strong>der</strong> Lücke sind die<br />

Zustände lokalisiert <strong>und</strong> die Elektronen sind unbeweglich. Man spricht daher in amorphen<br />

Halbleitern lieber von den Beweglichkeitskanten als von Bandkanten. Die Zustandsdichte in<br />

<strong>der</strong> Lücke in <strong>der</strong> Nähe <strong>der</strong> Kanten kann in amorphen Materialien oft exponentiell dargestellt<br />

werden als<br />

(4.11)<br />

wo E K die Kantenenergie ist. Die Urbach-Energie E U ist ein Maß für die Unordnung <strong>und</strong> liegt<br />

beim amorphen Silicium im Bereich einiger 10 meV bis etwas über 100 meV.<br />

Abb. 4.8: Zustandsdichte von kristallinem (links) <strong>und</strong> amorphem (rechts) Silicium<br />

4 Halbleiter I: Gleichgewicht F. Falk, <strong>Photovoltaik</strong> WS 2010/11

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