Photovoltaik Physik und Technologie der Solarzellen - IPHT Jena
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Da in <strong>Solarzellen</strong> die Rekombination von Ladungsträgern, die durch die Bestrahlung generiert<br />
wurden, den Wirkungsgrad verringert, ist eine große Lebensdauer wichtig. Man muss also<br />
versuchen, die Defektdichte so klein zu machen, dass Rekombination über Störstellen keinen<br />
wesentlichen zusätzlichen Beitrag mehr leistet.<br />
Außer im Inneren des Halbleiter kommt es auch an <strong>der</strong> Oberfläche o<strong>der</strong> an inneren Grenzflächen<br />
zur Rekombination. An einer freien Oberfläche befinden sich zunächst unabgesättigte<br />
Bindungen, die aber bei Silicium an Luft durch eine Oxidschicht abgesättigt werden. Je nach<br />
<strong>der</strong> genauen chemischen Beschaffenheit <strong>der</strong> Oberfläche gibt es dort mehr o<strong>der</strong> weniger viele<br />
Störstellen, die als Rekombinationszentren wirken. Da sie in einer atomar dünnen Schicht angesiedelt<br />
sind, kann man ihre Dichte als *-Funktion annehmen. Als Folge davon tritt auf <strong>der</strong><br />
rechten Seite von Gl. 5.9 ein zusätzlicher, ortsabhängiger Term -S *n*(x-x 0) auf, wo x die<br />
Koordinate senkrecht zur Oberfläche <strong>und</strong> x 0 die Position <strong>der</strong> Oberfläche bezeichnet. Da <strong>der</strong><br />
Ausdruck auf <strong>der</strong> linken Seite von Gl. 5.9 die Dimension cm -3 s -1 hat <strong>und</strong> die eindimensionale *-<br />
Funktion die Dimension cm -1 , muss <strong>der</strong> Vorfaktor S die Dimension einer Geschwindigkeit<br />
haben. S heißt Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit. Für Oberflächen von Silicium<br />
reichen gemessene Werte von 10 cm/s bis 10 6 cm/s. Die Kunst bei <strong>der</strong> <strong>Solarzellen</strong>herstellung<br />
beruht unter an<strong>der</strong>em darauf, die Oberflächen so zu passivieren, dass geringe Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeiten<br />
auftreten, die sonst einen Teil <strong>der</strong> durch das Licht erzeugten<br />
Ladungsträger wie<strong>der</strong> vernichten.<br />
5.4 Ladungsträgerbilanz im Nichtgleichgewicht<br />
5.4.1 Gr<strong>und</strong>gleichungen<br />
Wenn inhomogene Ladungsträgerdichten im Nichtgleichgewicht auftreten, z.B. in einem<br />
beleuchteten p-n-Übergang in <strong>Solarzellen</strong>, wird <strong>der</strong> raum-zeitliche Verlauf dieser Dichten durch<br />
Bilanzgleichungen beschrieben:<br />
(5.13)<br />
G ist die Generationsrate von Gl. 5.7, J n <strong>und</strong> J p sind die Relaxationszeiten, n 0 <strong>und</strong> p 0 die<br />
Gleichgewichtskonzentrationen <strong>der</strong> Ladungsträger gemäß Gl. 4.16/18 <strong>und</strong> j n <strong>und</strong> j p die<br />
Ladungsträgerströme. Ohne Ströme geht Gl. 5.13 in Gl. 5.9 über.<br />
Am freien Rand eines Halbleiters gelten die Randbedingungen<br />
(5.14)<br />
mit <strong>der</strong> Oberflächenrekombinationsgeschwindigkeit S <strong>und</strong> <strong>der</strong> äußeren Normale <strong>der</strong> Oberfläche<br />
n. An einer kontaktierten Oberfläche müssen noch die in den Kontakt hineinfließenden Ströme<br />
addiert werden. An Metallkontakten ist S sehr groß, so dass sich dort keine über die Gleichgewichtswerte<br />
erhöhten Ladungsträgerdichten halten können.<br />
5 Halbleiter II: Nichtgleichgewicht F. Falk, <strong>Photovoltaik</strong> WS 2010/11