Auflösung des schnellen Schaltens bei Patch-Clamp Untersuchungen
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Kapitel 5: Veränderung <strong>des</strong> Schaltverhaltens <strong>bei</strong>m Block durch Metallionen<br />
Beim mittleren Block kann das Auftreten von Bursts erkannt werden. Diese sind kurze<br />
Schließungen (Gaps) innerhalb einer Offenperiode. Es kann zu einer Reduzierung <strong>des</strong><br />
gemessenen (scheinbaren) Stromniveaus durch Mittelung im Tiefpaß <strong>des</strong> Meßsystems führen.<br />
Solange das <strong>Auflösung</strong>svermögen <strong>des</strong> Aufnahmesystems noch ausreicht, hat das<br />
Burstverhalten keine Auswirkungen auf die gemessene Größe der Leitfähigkeit <strong>des</strong><br />
Einzelkanals. Es verändert sich nur das Schaltverhalten. Bei Messungen am whole-cell-<strong>Patch</strong><br />
führen die Effekte von Fig. 5.1a und b auf eine flachere Kennlinie und einen geringeren<br />
Sättigungsstrom. Dies wird durch die Ensemblemittelung über die vielen verschiedenen<br />
Kanäle verursacht. Je weniger Kanäle pro Zeiteinheit geöffnet sind, <strong>des</strong>to weniger Ionen<br />
kommen durch und der resultierende Gesamtstrom pro Zeiteinheit nimmt ab.<br />
In Fig. 5.1c schließlich ist das Schalten so schnell, daß auch in der Einzelkanalmessung<br />
eine Stromreduzierung durch zeitliche Mittelung auftritt. Der Effekt in Fig. 5.1c wird durch<br />
Betrachtung der Antwort <strong>des</strong> Verstärkers <strong>bei</strong> Kanalöffnungen mit unterschiedlichen Längen<br />
(Fig. 5.2) illustriert. Die Daten werden in äquidistanten Zeiten abgetastet. Bei langsamen<br />
Ereignissen (links in Fig. 5.2) erreicht der Großteil der Abtastpunkte den korrekten Wert <strong>des</strong><br />
Einzelkanalstroms. Es werden auch die Dauer und die Anzahl der Ereignisse richtig erkannt.<br />
Wenn die Länge eines Ereignisses kürzer wird, nehmen mehr und mehr Abtastpunkte Werte<br />
an, welche tiefer liegen. Bei der Konstruktion <strong>des</strong> Amplitudenhistogramms dieser Daten<br />
werden die Peaks breiter. Man erhält ein sehr viel stärkeres Rauschen. Die<br />
Amplitudenverteilung wird zur Betaverteilung. Es ist möglich, die <strong>schnellen</strong> Ratenkonstanten<br />
aus diesen Betaverteilungen zu bestimmen (Rießner, 1994; FitzHugh, 1983; Yellen, 1984).<br />
Im Falle <strong>des</strong> <strong>schnellen</strong> Flickerns (rechts in Fig. 5.2) genügt die <strong>Auflösung</strong> <strong>des</strong> Detektors<br />
nicht mehr, um das volle Stromniveau zu erreichen. Es erscheint ein scheinbarer<br />
Unterniveaustrom mit einem Wert, der vom Verhältnis der Offen- und Geschlossenzeiten<br />
abhängig ist. Es wird ein scheinbarer Einzelkanalstrom mit einer kleineren Amplitude<br />
erhalten. Permeations- und Gating-Modelle können <strong>bei</strong> dieser <strong>Auflösung</strong> nicht mehr<br />
unterschieden werden. Bei einer nicht ausreichenden <strong>Auflösung</strong> können <strong>bei</strong>de Modelle zu<br />
einer Reduzierung <strong>des</strong> Einzelkanalstroms führen. In dieser Ar<strong>bei</strong>t soll untersucht werden, ob<br />
eine nicht ausreichende <strong>Auflösung</strong> ein Permeationsmechanismus (Wirkung auf den<br />
Einzelkanalstrom) <strong>bei</strong>m AMFE vortäuscht.<br />
Fig. 5.2: Darstellung der Reduzierung <strong>des</strong> Einzelkanalstroms verursacht durch schnelles Schalten. Die<br />
Kreuze sind die Abtastwerte. „f“ kennzeichnet das volle Niveau und „s“ die scheinbare niedere Leitfähigkeit<br />
(Hansen et al., 1997).<br />
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