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Auflösung des schnellen Schaltens bei Patch-Clamp Untersuchungen

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8 Fazit und Ausblick<br />

Dies ist die vierte Ar<strong>bei</strong>t, in der sich die Kieler Ar<strong>bei</strong>tsgruppe mit dem Thema <strong>des</strong><br />

anomalen Molfraktionseffekts (aus K + - und Tl + -Mischung) beschäftigt. Das Ziel aller<br />

Ar<strong>bei</strong>ten war es, zu entscheiden, ob dem AMFE ein Permeations- oder Gatingmechanismus<br />

zugrunde liegt (Kapitel 4). Während der Nachweis der entscheidenden Rolle <strong>des</strong> Gatings <strong>bei</strong>m<br />

Block durch Cs + (Draber und Hansen, 1994a) und Na + (Blunck, 1996) gelang, konnte eine<br />

Entscheidung <strong>bei</strong>m AMFE in den drei Vorgängerar<strong>bei</strong>ten noch nicht erreicht werden.<br />

Nun ist eine Bilanz zu ziehen, wie der Stand am Ende dieser Ar<strong>bei</strong>t ist. Ein Hinweis, daß<br />

der anomale Molfraktionseffekt durch schnelles Schalten verursacht wird, ergab sich aus den<br />

Strom-Spannungskurven <strong>bei</strong> tiefer Temperatur. Die Konvergenz der <strong>bei</strong>den Strom-<br />

Spannungskurven <strong>bei</strong> 7 °C unterstützt diese Hypothese.<br />

Das Endziel ist jedoch der direkte Nachweis <strong>des</strong> <strong>schnellen</strong> <strong>Schaltens</strong> in kinetischen<br />

<strong>Untersuchungen</strong>. Im Gegensatz zu den Vorgängerar<strong>bei</strong>ten stand jetzt das neue Programm von<br />

Blunck (1996) und Kirst (1997) zur Auswertung von Mehrkanal-Dwell-Time-Histogrammen<br />

zur Verfügung.<br />

Die <strong>Untersuchungen</strong> auf der Grundlage <strong>des</strong> Markov-Modells SOGCZ<br />

erbrachte dann die Überraschung. Stellt man sich zuerst einmal dumm, indem man vergißt,<br />

daß die Niveaubestimmung von der gleichen zeitlichen <strong>Auflösung</strong> wie die Bestimmung der<br />

Ratenkonstanten ausgeht, so ergeben die gemessenen Ratenkonstanten <strong>bei</strong> Raumtemperatur in<br />

Tl + -haltiger Lösung tatsächlich durch Mittelung über die Burstbereiche eine scheinbare<br />

Stromreduzierung. Sie beträgt zwar nur 10% statt der gemessenen 25%, aber in Anbetracht<br />

der Fehler konnte man erst einmal zufrieden sein.<br />

Doch diese Betrachtung hat nur Bedeutung für Wissenschaftler, die mit niedrigeren<br />

Abtastraten ar<strong>bei</strong>ten. Ihnen könnte man aufgrund der Analyse hier sagen: 10% Eurer<br />

gemessenen Stromreduzierung geht auf Kosten der Mittelung über schnelles Schalten.<br />

Für die hier durchgeführte Analyse ist der in Abschnitt 7.3.8 beschrittene Weg der einzig<br />

richtige. Man nimmt die Ratenkonstanten <strong>bei</strong> Tl + -Anwesenheit <strong>bei</strong> Raumtemperatur, steckt sie<br />

in das Simulationsprogramm, überlagert die Zeitreihe mit dem angemessenen Rauschen und<br />

filtert sie mit einem 4-poligen Besseltiefpaß wie im Versuch. Da wird untersucht, ob die<br />

Analyse den <strong>bei</strong> der Simulation benutzten Einzelkanalstrom von 6 pA wiedergibt. Selbst <strong>bei</strong><br />

Beschränkung auf das kleine Burstmodell (SOG) verändert das schnelle Schalten den<br />

aus den Amplitudenhistogrammen gefundenen Strom nur auf 5.88 pA. Dieser Effekt von 2%<br />

liegt im Streubereich der Auswertung realer Daten. Er ist zu vernachlässigen gegenüber den<br />

25%, die als Stromreduzierung <strong>bei</strong>m AMFE gemessen werden.<br />

Dieses Ergebnis ist ein Meilenstein in der Geschichte <strong>des</strong> AMFEs im Kieler Labor. Die<br />

Suche nach schnellem Schalten begann mit der Diplomar<strong>bei</strong>t von Draber (1990), führte zu<br />

gewaltigen Verbesserungen der Aufzeichnungsanlagen (Albertsen, 1992) und zur<br />

Entwicklung neuer effektiver Auswertealgorithmen (Schultze und Draber, 1993; Draber und<br />

Schultze, 1994a; Albertsen und Hansen, 1994; Blunck, 1996; Kirst, 1997) und nun ist auf<br />

einen Schlag alles vor<strong>bei</strong>: Kein schnelles Schalten als Ursache.

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