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Unidad de Aprendizaje: Aseguramiento de la Calidad Etapa Terminal Área de Conocimiento: Otras Competencia: Implantar modelos de Aseguramiento de la Calidad mediante el manejo responsable de la información, el trabajo en equipo, tomando en cuenta la integridad humana y el cuidado del medio ambiente para establecer, documentar y evaluar evidencias de cumplimiento de las especificaciones de procesos y productos, que sirvan de base para los programas de mejora continua. Carga Académica Clave HC HL HT HPC HE CR Requisito 3 0 0 3 6 Contenido Temático 1. Introducción a los sistemas de calidad 2. Las siete herramientas estadísticas básicas 3. Control estadístico de procesos 4. Técnicas para el aseguramiento de la calidad Evidencia de desempeño: 1 Diseño y aplicación de auditoria de calidad a un proceso de una empresa local. 2 Evaluación de la comprensión de las Normas ISO. Bibliografía: Básica Douglas C. Montgomery. (1991). Introducción al control estadístico de la calidad. (1ª ed.) México: Iberoamericana. Mark J. Kiemele. (2000). Basic statistics: tools for continuous improvements. (4a ed.). Colorado Springs, Colorado: Air Academy. Douglas C. Montgomery. (2002). Probabilidad y estadística aplicada a la ingeniería. México: Mc Graw Hill. Complementaria Prat Bartés Albert. (2000). Métodos estadísticos: control y mejora de la calidad. (1ª ed.). México: Alfaomega. Ron Kenett, Shelemgaho Zacks. (2000). Estadística industrial moderna: diseño y control de la calidad y la confiabilidad. (1ª ed.). México: Internacional Thomson. Propuesta: Ingeniero en Semiconductores y Microelectrónica 123
Unidad de Aprendizaje: Técnicas de Caracterización de Materiales Etapa Terminal Área de Conocimiento: Ingeniería Aplicada Competencia: Evaluar las diferentes técnicas de caracterización mediante la aplicación de los principios de microscopía y espectroscopía para determinar la microestructura y composición química de los materiales, con actitud analítica y crítica Carga Académica Clave HC HL HT HPC HE CR Requisito 3 2 1 3 9 Contenido Temático 1. Microscopia Óptica 2. Difracción de rayos X 3. Microscopio electrónico de transmisión 4. Microscopio electrónico de barrido 5. Microscopia de barrido por sonda 6. Espectroscopia de rayos X para análisis químico 7. Espectroscopia de electrones para análisis de superficies 8. Espectrometría de masas por iones secundarios para análisis de superficies Evidencia de desempeño: Elaborar un reporte de análisis que contenga una micrografía y una discusión sobre las características observadas del material Elaborar un reporte de análisis que contenga una espectroscopia y una discusión sobre las características observadas del material Bibliografía Básica Leng Yang. Materials Characterization: Introduction to Microscopic and Spectroscopic Methods, Wiley, 2008 Complementaria Morita, S. Roadmap of Scanning Probe Microscopy, Springer, 2007 Propuesta: Ingeniero en Semiconductores y Microelectrónica 124
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