Ibérica na região de Trás-os-Montes (NE Portugal) - Universidade ...

28 CLAUSELL BORJA, J. V. CAD. LAB. XEOL. LAXE 26 (2001)
Tabla 4.1. Condiciones de trabajo según el estudio al que están destinados los distintos registros
difractométricos. (P.D.= Polvo desorientado; A.O.N.= Agregado orientado normal; A.O.Q.=
Agregado orientado calentado; A.O.E.= Agregado orientado tratado con etilénglicol; M.T.=Muestra
total; F1 = Fracción arcilla).
de filosilicatos de la arcilla se completó
con los agregados orientados normales,
calentados y tratados con etilénglicol, de
la fracción arcilla.
Los criterios utilizados en la identificación
mineralógica de filosilicatos han sido
los expuestos en WARSHAW & ROY
(1961). En las estimaciones semicuantitativas
se ha seguido el método de las intensidades
de referencia (DAVIS et al., 1988;
DAVIS et al., 1989a, 1989b; DAVIS et
al.,1990; HUBBARD, 1988) habiéndose
utilizado los valores que se presentan en la
tabla 4.2.
Análisis microestructural por DRX
Concepto de microestructura en DRX
El análisis microestructural por DRX
se basa en que la forma de los perfiles de
difracción de un sólido policristalino viene
determinada, entre otros factores, por las
imperfecciones cristalinas del material.
Estas imperfecciones se refieren básicamente
a la existencia de cristalitos y micro -
deformaciones, y reflejan la microestructura
cristalina que es posible analizar a partir
de los datos de DRX. Examinaremos este
concepto con más detalle.
Una característica común a casi todos
los cristales reales es su imperfección cristalina,
originada por varios tipos de defectos
cristalinos, entre los que destacan las
dislocaciones. Por lo que a la DRX se
refiere, el cristal se presenta como un
mosaico de cristalitos ligeramente desorientados
entre sí.
La noción de cristalito es equivalente a
la de dominio de difracción coherente.
Este concepto se deriva de que, en un cristal
real, la periodicidad geométrica perfecta
no se extiende a todo el volumen del