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30 CLAUSELL BORJA, J. V. CAD. LAB. XEOL. LAXE 26 (2001)
deformaciones, o distorsiones, de la red
cristalina en el interior de los dominios,
origina también el ensanchamiento de los
picos de difracción y afecta a la forma de
los perfiles. Estas microdeformaciones
consisten en el desplazamiento aleatorio
de celdas unidad o grupos de celdas unidad
de sus posiciones ideales.
Adicionalmente a éstas, pueden existir
otras imperfecciones, como irregularidades
en la secuencia de apilamiento de los
planos atómicos en la red cristalina (stac -
king faults). Tales defectos se denominan
en ocasiones microdeformaciones, y pueden
conducir a cambios en la forma y/o la posición
de los picos de difracción.
Una reflexión dada hkl informa sólo
acerca de la microestructura en la dirección
perpendicular a los planos (h k l)
(BERTAUT, 1950). Por ello, si el material
es anisótropo (en el sentido de que el
ensanchamiento de sus perfiles depende de
la reflexión), se precisa analizar varias
reflexiones para una caracterización microestructural
más completa.
En el método aproximado de SCHE-
RRER (1918) se considera que todo el
ensanchamiento se debe al tamaño de cristalito,
cuyo valor promedio se obtiene a
partir de los cristalitos de una muestra de
una sola reflexión:
la expresión:
donde:
= tamaño medio de cristalito en
la dirección normal los planos de la familia
hkl
λ = longitud de onda de la radiación
(Å)
β f = anchura integral del pico de
difracción corregido del ensanchamiento
instrumental (expresado en radianes de
2θ)
θ = ángulo de la reflexión considerada
K = constante cuyo valor depende
de : a) la forma de los cristales, b) la distribución
de tamaños, c) los índices hkl
del plano de difracción. Normalmente se
toma K = 1 y se habla entonces de tamaño
aparente. El valor de β f se obtiene a
partir de un procedimiento de deconvolución
que se aplica a la anchura integral experimental.
STOKES & WILSON (1944) ya toman
en consideración el ensanchamiento de los
picos de difracción por distorsiones de red,
dando paso al desarrollo de los distintos
métodos de análisis microestructural.
El parámetro de tamaño que se determina
en estos métodos se denota generalmente
con el símbolo , y representa el
valor medio de D -longitud de una columna
de celdas unidad- medido en la dirección
perpendicular al plano de difracción,
promediado en cada dominio y en la
muestra difractante. Usualmente se diferencia
entre a) y b) , siendo
ambos parámetros característicos de la distribución
de D en la muestra (WILSON,
1963):
a) , valor medio de área o superfi -
cie, puede ser definido como la altura
media de las columnas de celdas normales
a los planos de reflexión de los cristalitos.
Es el parámetro que se determina en el
método de WARREN & AVERBACH
(1950-1952).
b) , valor medio de v o l u m e n,
representa el valor medio de los espesores