Hovedoppgave - Høgskolen i Vestfold

More documents

Recommendations

Info

Nanopartikler – Håndtering av eksponering i arbeidsmiljøet mellom 217µg til 6020µg, og de fleste av de frigjorte nanopartiklene ble funnet på områdene på hanskene som var i direkte kontakt med overflater. Tabell 4 Resultater fra et dansk feltstudie som viser partikkelkonsentrasjoner på arbeidsplasser. Nanopartikkel Type måling Arbeidsprosess Partikkelkons. (cm -3 ) Max (cm -3 ) Nanosilica Aktivitet Veiing og 1,597e3 4799 1079 Bakgrunn blanding 1,504e3 1073 993 Nano-TiO2 Avtrekksskap Simulert søl og 2,000e3 1,300e5 1100 Arbeidssone rengjøring 4,141e3 5787 2156 MWCNT-1 Aktivitet 7,605e3 5,636e4 3540 Bakgrunn Utporsjonering i --- --- --- MWCNT-2 Aktivitet arbeidstelt 1,684e4 2,871e4 4209 Bakgrunn --- --- --- Min (cm -3 ) Tabell 5 – Frigjorte SWCNT i arbeidsatmosfæren ved uttak fra produksjonsreaktor til videre prosessering. Fasilitetsnummer Personlige luftprøver Hanskeprøver Prøve (m 3 ) Estimert konsentrasjon (µg/m 3 ) Estimert konsentrasjon (µg) 1 0,139 0,7 (Ni) 217 2 0,079 36,29 (Fe) 3705 3 0,096 9,86 (Ni) 863 4 0,132 51,73 (Ni) 6020 52,73 (Fe) -- 6.3 Noen instrumenter Selve målingen i arbeidsatmosfæren kan gjøres med stasjonære enheter eller bærbart utstyr. For begge tilfellene må instrumentet korrigeres for bakgrunnsstøv, før målingen blir foretatt. Det finnes et antall forskjellige målemetoder og instrumenter, disse instrumentene kan brukes til å karakterisere de forskjellige aspektene ved nanopartikler. Figur 14 viser eksempler på noen instrumenter. 50
Nanopartikler – Håndtering av eksponering i arbeidsmiljøet Condensation Particle Counter (CPC) Kondensasjonspartikkel teller kan brukes for å telle antall partikler. Denne fungerer ved at luftprøver blir kontinuerlig sugd inn i CPC, hvor luftprøven kommer inn i et oppvarmet metningskammer med damp, for eksempel butanol. Partiklene og dampen går videre til en avkjølt kondenseringsenhet hvor dampen kondenserer på partiklene slik at de øker i størrelse. Etter kondensering er partiklene så store at de kan telles med ”light scattering” i en optisk partikkelteller (OPC). Partiklene går inn i et kammer opplyst av laser, når partiklene bryter laseren vil laseren reflekteres slik at den treffer en fotodiode. Det finnes mange forskjellige modeller og de måler i ulike områder. Instrumentene med lavest deteksjonsgrense kan oppfange partikler ned til 2,5 nm [70]. Scanning Mobility Particle Sizer (SMPS) En SMPS kan brukes både til å bestemme antall partikler og størrelsesfordeling. Instrumentet består av 2 hoveddeler: en partikkel teller og ett differensial mobilitetsanalyse instrument (DMA). Partiklene går igjennom et filter som har til hensikt å fjerne de store partiklene. Deretter blir partiklene ladd før de kommer inn i DMA. Denne består av en indre og ytre elektrode, den indre elektroden får et negativt potensial, mens den ytre elektroden holdes jordet. Partiklene avbøyes og separeres avhengig av den elektriske mobiliteten til partiklene. Bare partikler med en bestemt mobilitet slipper igjennom av gangen. Disse går videre ut av DMA og inn i en kondensasjonspartikkelteller hvor de telles. Dette oppsettet gir en god størrelsesfordeling, men er avhengig av relativt stabile luftbårne partikler for at måleresultatene skal være korrekte. SMPS kan bare måle en mobilitet av gangen, derfor vil målingene bli feil hvis de luftbårne partiklene har endret karakterisering før måleprosessen har rukket å bli ferdig [71]. Et alternativ til SMPS er FMPS (Fast Mobility Particle Sizer). Denne har ikke like god oppløsning men den måler alle mobiliteter samtidig, denne metoden kan derfor brukes på mer fluktuerende partikler. 51
Page 1 and 2: Nanopartikler - Håndtering av eksp
Page 49: Nanopartikler - Håndtering av eksp

Hovedoppgave - Høgskolen i Vestfold

Create successful ePaper yourself

Delete template?

Save as template?