Modulhandbuch Studiengang Applied Life Sciences - FHInfo ...
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<strong>Modulhandbuch</strong> - <strong>Applied</strong> <strong>Life</strong> <strong>Sciences</strong> (ALS06) - Bachelor of Science<br />
5. Semester Oberflächenmesstechnik<br />
Modulnummer: Prüfungsnummer: Kurzzeichen:<br />
Modulgruppe: Wahlpflichtfächer Teil 2 5. Semester<br />
Lernziele: Kennenlernen wichtiger Mess- und Prüfgeräte zur<br />
Charakterisierung<br />
von Oberflächen in der Mikro- und Nanotechnik, die nicht in der<br />
Lehrveranstaltung Optische Messtechnik besprochen werden:<br />
Optisches Mikroskop, Elektronenmikroskop,<br />
Rastersondenmikroskop<br />
Charakterisierung rauer Oberflächen, Normen der verschienen<br />
Rauheitskennzahlen und ihre Bedeutung, Einfluss von rauen<br />
Oberflächen bei optischen Messverfahren zur<br />
Oberflächencharakterisierung<br />
Eingangsvoraussetzungen: Mathematik I, II und III mit Übungen, Optische Messtechnik<br />
Anmeldeformalitäten: Anmeldung zur Klausur gemäß Prüfungsordnung<br />
Prüfungsmodalitäten: Klausur<br />
Prüfungsart: Prüfungsleistung<br />
Prüfungsform: schriftlich<br />
Umfang: Summe ECTS P.: 2,50 / Summe SWS: 2<br />
zugehörige Veranstaltungen: Oberflächenmesstechnik 2V<br />
Modulverantwortlich: Prof. Dr. Peter Pokrowsky<br />
Veranstaltung Oberflächenmesstechnik (B 21-1)<br />
Veranstaltungsnummer: B 21-1 Kurzzeichen: Semester: 5<br />
Inhalt: Kennenlernen der wichtigsten Methoden zur mikroskopischen<br />
Charakterisierung von Oberflächen: Optische Mikroskopie,<br />
Elektronenmikroskopie, Rastersondenmikroskopie;<br />
Kennzahlen zur Charakterisierung von rauen Oberflächen und ihr<br />
Einfluß auf optische Messungen.<br />
Studienbehelfe / Literatur: Schröder: Technische Optik, Vogel Fachbuch, ISBN: 3-8023-<br />
0067-X<br />
Naumann, Schröder: Bauelemente der Optik, Hanser Verlag,<br />
ISBN: 3-446-17036-7<br />
Flegler, Heckman, Klomparens: Elektronenmikroskopie, Spektrum<br />
Verlag, ISBN: 3-86025-341-7<br />
Alexander: Grundlagen der Elektronenmikroskopie, Teubner<br />
Verlag, ISBN: 3-519-03221-X<br />
A practical Guide to Scanning Probe Microscopy, Park Scientific<br />
Instruments<br />
Skoog, Leary: Instrumentelle Analytik, Springer Verlag, ISBN:3-<br />
540-60450-2<br />
Ehrfeld (Hrsg.) Handbuch Mikrotechnik. Hanser Verlag, ISBN: 3-<br />
446-21506-9<br />
Sorg: Rauheitsmessung und Oberflächenbeurteilung, Hanser<br />
Verlag, ISBN: 3-446-17528-8<br />
Lehrsprache: Deutsch<br />
Arbeitsaufwand: 30h Vorlesung<br />
45h Selbststudium<br />
Umfang: ECTS P.: 2,50 / SWS: 2V<br />
Verantwortliche Dozenten: Prof. Dr. Peter Pokrowsky<br />
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