04.12.2012 Views

Országos Doktori Jegyzék III. - Nemzeti Erőforrás Minisztérium

Országos Doktori Jegyzék III. - Nemzeti Erőforrás Minisztérium

Országos Doktori Jegyzék III. - Nemzeti Erőforrás Minisztérium

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Személyes adatok<br />

Név: Simon Alíz, PhD<br />

Születési év: 1967<br />

Születési hely: Miskolc<br />

Kossuth Lajos Tudományegyetem, Debrecen<br />

– 1985–1990 – kémia-fizika szakos középiskolai tanár<br />

Kossuth Lajos Tudományegyetem, Debrecen – 1996–1998 – angol-magyar szakfordító (fizika)<br />

angol – felsõfok – 1998<br />

II. díj – 1989 – XIX. Országos Tudományos Diákköri Konferencia – Tudományos diákköri munka<br />

KLTE TTK Emlékérem – 1990 – Kossuth Lajos Tudományegyetem – Kiemelkedõ tanulmányi<br />

és közösségi munka<br />

Schlenk Bálint díj – 1999 – MTA Atommagkutató Intézete – Kutatási eredmények<br />

DAB-díj – 1999 – Debreceni Akadémiai Bizottság – Kutatási eredmények<br />

1989 – Hidrogénátvitel biológiai membránokban és modellrendszerekben – TDK dolgozat<br />

1997 – 7 th Joint Vacuum Conference of Hungary, Austria, Croatia and Slovenia, Debrecen, Magyarország<br />

– Effect of surface topography on scanning RBS microbeam measurements, eloadás<br />

1997 – 13 th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-13), Lisszabon, Portugália –<br />

Observation of surface topography using an RBS microbeam, poszter eloadás<br />

1998 – 6 th International Conference on Nuclear Microprobe Technology Applications, Spier<br />

Estate, Stellenbosch, Dél-afrikai Köztársaság – 3-dimensional scanning of ion-implanted<br />

porous silicon, eloadás<br />

1999 – 14 th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-14), Drezda, Németország –<br />

Study of interdiffusion in amorphous Si/Ge multilayers by Rutherford-backscattering spectrometry<br />

poszter eloadás<br />

2000 – 7 th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications. Bordeaux,<br />

Franciaország – Micro-RBS as a technique for studying the surface topography of Bi<br />

film prepared by pulsed laser deposition, elõadás<br />

1998– Magyar Fizikus Hallgatók Egyesülete; Eötvös Loránd Fizikai Társulat<br />

182<br />

Felsõfokú tanulmányok (Intézmény – Idõszak – Képesítés)<br />

Nyelvismeret (Nyelv – Vizsga/szint – Évszám)<br />

Országos <strong>Doktori</strong> Jegyzék <strong>III</strong>.<br />

Elismerések, díjak (Díjmegjelölés – Év – Adományozó szervezet – Elismert teljesítmény)<br />

Hallgatói tudományos munka (Év – TDK dolgozat, önálló kutatás, konferencia – Cím)<br />

Részvétel a tudományos közéletben (Év – Tudományos társasági, szervezeti tagság)<br />

Ösztöndíjak, szakmai gyakorlatok, tanulmányutak (Év – Intézmény – Támogató)<br />

1999–2000 – Központi Fizikai Kutatóintézet Részecske és Magfizikai Kutatóintézete (KFKI-<br />

RMKI) – MTA ATOMKI, KFKI-RMKI, tanulmányutak – Amorf Si-Ge multirétegek nagy<br />

mélységfeloldású RBS analízise<br />

1999– MTA Atommagkutató Intézete – Magyar Tudományos Akadémia, fiatal kutató ösztöndíj –<br />

Mikronyalábbal kombinált Rutherford-visszaszórásos spektrometria anyagtudományi kutatásokban

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!