Országos Doktori Jegyzék III. - Nemzeti Erőforrás Minisztérium
Országos Doktori Jegyzék III. - Nemzeti Erőforrás Minisztérium
Országos Doktori Jegyzék III. - Nemzeti Erőforrás Minisztérium
You also want an ePaper? Increase the reach of your titles
YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.
Személyes adatok<br />
Név: Simon Alíz, PhD<br />
Születési év: 1967<br />
Születési hely: Miskolc<br />
Kossuth Lajos Tudományegyetem, Debrecen<br />
– 1985–1990 – kémia-fizika szakos középiskolai tanár<br />
Kossuth Lajos Tudományegyetem, Debrecen – 1996–1998 – angol-magyar szakfordító (fizika)<br />
angol – felsõfok – 1998<br />
II. díj – 1989 – XIX. Országos Tudományos Diákköri Konferencia – Tudományos diákköri munka<br />
KLTE TTK Emlékérem – 1990 – Kossuth Lajos Tudományegyetem – Kiemelkedõ tanulmányi<br />
és közösségi munka<br />
Schlenk Bálint díj – 1999 – MTA Atommagkutató Intézete – Kutatási eredmények<br />
DAB-díj – 1999 – Debreceni Akadémiai Bizottság – Kutatási eredmények<br />
1989 – Hidrogénátvitel biológiai membránokban és modellrendszerekben – TDK dolgozat<br />
1997 – 7 th Joint Vacuum Conference of Hungary, Austria, Croatia and Slovenia, Debrecen, Magyarország<br />
– Effect of surface topography on scanning RBS microbeam measurements, eloadás<br />
1997 – 13 th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-13), Lisszabon, Portugália –<br />
Observation of surface topography using an RBS microbeam, poszter eloadás<br />
1998 – 6 th International Conference on Nuclear Microprobe Technology Applications, Spier<br />
Estate, Stellenbosch, Dél-afrikai Köztársaság – 3-dimensional scanning of ion-implanted<br />
porous silicon, eloadás<br />
1999 – 14 th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-14), Drezda, Németország –<br />
Study of interdiffusion in amorphous Si/Ge multilayers by Rutherford-backscattering spectrometry<br />
poszter eloadás<br />
2000 – 7 th International Conference on Nuclear Microprobe Technology and Applications. Bordeaux,<br />
Franciaország – Micro-RBS as a technique for studying the surface topography of Bi<br />
film prepared by pulsed laser deposition, elõadás<br />
1998– Magyar Fizikus Hallgatók Egyesülete; Eötvös Loránd Fizikai Társulat<br />
182<br />
Felsõfokú tanulmányok (Intézmény – Idõszak – Képesítés)<br />
Nyelvismeret (Nyelv – Vizsga/szint – Évszám)<br />
Országos <strong>Doktori</strong> Jegyzék <strong>III</strong>.<br />
Elismerések, díjak (Díjmegjelölés – Év – Adományozó szervezet – Elismert teljesítmény)<br />
Hallgatói tudományos munka (Év – TDK dolgozat, önálló kutatás, konferencia – Cím)<br />
Részvétel a tudományos közéletben (Év – Tudományos társasági, szervezeti tagság)<br />
Ösztöndíjak, szakmai gyakorlatok, tanulmányutak (Év – Intézmény – Támogató)<br />
1999–2000 – Központi Fizikai Kutatóintézet Részecske és Magfizikai Kutatóintézete (KFKI-<br />
RMKI) – MTA ATOMKI, KFKI-RMKI, tanulmányutak – Amorf Si-Ge multirétegek nagy<br />
mélységfeloldású RBS analízise<br />
1999– MTA Atommagkutató Intézete – Magyar Tudományos Akadémia, fiatal kutató ösztöndíj –<br />
Mikronyalábbal kombinált Rutherford-visszaszórásos spektrometria anyagtudományi kutatásokban