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Das Produkt aus k und q i entspricht dem Einfluss der Oxidationsstufe und der Summenterm dem<br />
Einfluss der Ligandenhülle. Daten für die chemische Verschiebung wurden folgenden Quellen<br />
entnommen [159, 160].<br />
3.1.5 Quantitative Analyse der Zusammensetzung<br />
Zur quantitativen Analyse der Zusammensetzung wird die Intensität der Photoemissionslinien<br />
herangezogen. Diese ist als die Fläche unter den Emissionslinien definiert. Der durch inelastische<br />
Streuung von Photoelektronen verursachte Untergrund wird zur Bestimmung der Intensität zuvor<br />
abgezogen. Der Untergrund kann unter anderem mit einem Shirley-Untergrund [161] oder<br />
einem Tougaard-Untergrund [162] modelliert werden. Die erhaltene Intensität der betrachteten<br />
Linie I x wird mit Gleichung (3.8) beschrieben.<br />
I x = n x f i σ i θ i yλAT i (3.8)<br />
Hierbei entsprechen n x der Anzahl der Atome, f i dem Röntgen-Photonenfluss, σ i dem Ionisationsquerschnitt,<br />
θ i dem winkelabhängigen Effizienzfaktor (der von dem Winkel zwischen<br />
Röntgenquelle und Detektor abhängt), y der Effizienz des photoelektrischen Effektes, A der<br />
Anregungsfläche, T i der Effizienz mit der die Photoelektronen detektiert werden und λ der<br />
mittleren freien Weglänge der Photoelektronen in der Probe. Bis auf die Anzahl der Atome n x<br />
werden alle anderen Faktoren in dem sogenannten atomaren Sensitivitätsfaktor (ASF) zusammengefasst<br />
und es ergibt sich Gleichung (3.9).<br />
I x = n x · ASF x (3.9)<br />
Zur Bestimmung der Zusammensetzung c wird Gleichung (3.10) herangezogen.<br />
c x =<br />
I x/ASF x<br />
∑<br />
Ii /ASF i<br />
(3.10)<br />
Hierbei werden die atomaren Sensitivitsfaktoren aus Tabelle A.1 (siehe Anhang) verwendet. Die<br />
von Scofield berechneten ASF Scofield [163] sind theoretisch berechnete Werte, die unabhängig<br />
von dem eingesetzen Messsystem sind. Wagner et al. [164] wichten die theoretischen ASF Wagner<br />
mittels experimenteller Ergebnisse an „Physical Electronics 550“ und „Varian IEE-15“ Systemen,<br />
die die Photoelektronen auf eine bestimmte Passenergie abbremsen um die Bindungsenergie<br />
durch zu stimmen. Die ASF Moulder [160] wurden für „Physical Electronics“ Geräte mit einem<br />
Winkel von 90° zwischen Röntgenquelle und Detektor bestimmt und werden für die Auswer-<br />
38 3 Experimentelle Methodik