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Modell nach Schroder [19] geht davon aus, dass elektronische Ladungsträger in Fallen gefangen<br />

und wieder freigelassen werden. Dadurch ändert sich die Weite der Raumladungszone.<br />

Diese Änderung wird als Änderung der Kapazität detektiert, da die Weite der Raumladungszone<br />

und die Kapazität C, wie in Gleichung (3.23) beschrieben, verknüpft sind. Das Freilassen von<br />

Majoritätsladungsträgern, in dem Fall von CIGS also Löchern und in Abbildung 3.10 Elektronen,<br />

wird wie folgt beschrieben:<br />

Durch das anfängliche Beanspruchen des Bauteils mit null Volt Spannung können die Defekte<br />

Elektronen einfangen. Die Kapazität entspricht hier C 0 . Eine anschließende negative Spannungsstufe<br />

führt zum Freilassen der Elektronen als Funktion der Zeit. Das Verhalten der Kapazität<br />

kann mit Gleichung (3.26) beschrieben werden.<br />

<br />

nT (0)<br />

C = C 0<br />

1 − exp − t <br />

2N A τ e<br />

(3.26)<br />

Direkt nach der negativen Spannungsstufe ist die Weite der Raumladungszone am größten und<br />

die Kapazität am geringsten. Danach wird die Weite der Raumladungszone mit der Zeit kleiner<br />

und die Kapazität größer, bis sich ein Gleichgewichtszustand einstellt (siehe Abbildung 3.11).<br />

Aus einer C-V-t Messung kann die Zeitkonstante τ und n t (0) aus Gleichung (3.27) bestimmt<br />

werden.<br />

C (∞) − C (t) = n <br />

T (0)<br />

C 0 exp − t <br />

2N A<br />

τ e<br />

(3.27)<br />

Hierzu wird Gleichung (3.27) als ln [C (∞) − C (t)] gegen t aufgetragen. Die Steigung der Kurve<br />

ist -1/τ e und der y-Achsenabschnitt ist ln n T (0) C 0 /2N A<br />

, wie in Abbildung 3.12 dargestellt.<br />

Eine äquivalente mathematische Beschreibung mit einer anderen physikalischen Erklärung ge-<br />

ln[C( )-C(t)]<br />

8<br />

ln[n T<br />

(0)C 0<br />

/2N A<br />

]<br />

m~-1/τ e<br />

Abbildung 3.12: Auftragung zur Bestimmung der<br />

Zeitkonstanten τ, in der ln [C (∞) − C (t)] gegen die<br />

Zeit t aufgetragen wird.<br />

0<br />

t<br />

ben Heiser et al. [177–180], die nicht von elektronischen Ladungen sondern von ionischen<br />

Ladungen ausgeht. Die ionischen Ladungen driften im elektrischen Feld, das durch die angeleg-<br />

48 3 Experimentelle Methodik

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