11.07.2015 Views

Derroche de ingenio - Contact ABB

Derroche de ingenio - Contact ABB

Derroche de ingenio - Contact ABB

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Espectroscopia <strong>de</strong> gasesIngenio en la analíticaLas gran<strong>de</strong>s ventajas <strong>de</strong> la precisiónanalíticaEs posible calcular la dispersión <strong>de</strong>‘referencia’ asociada a una incertidumbre<strong>de</strong> 0,1 PON (Pump Octane Number).No es posible reducir a cero estadispersión, pero minimizarla contribuye<strong>de</strong>cisivamente al margen global <strong>de</strong>beneficios <strong>de</strong> la refinería. Por cada100.000 barriles diarios <strong>de</strong> producción<strong>de</strong> la planta, una pequeña mejora(precisión analítica <strong>de</strong> 0,02 a 0,05PON) <strong>de</strong>l producto final significa unahorro <strong>de</strong>l or<strong>de</strong>n <strong>de</strong> 1,5 a 3 millones<strong>de</strong> dólares al año [1].Argumentos claros en favor<strong>de</strong> FTIRLa tecnología FTIR es actualmente lamejor alternativa por precio, rendimiento,valor y riesgo. Dado que sebasa en la óptica, es muy flexible enlas aplicaciones con numerosos flujosy propieda<strong>de</strong>s. Esta tecnología escompatible tanto con los analizadoreslocales <strong>de</strong> muestreo completamenteextractivo, como con los sistemas <strong>de</strong>analizadores remotos, basados enfibra óptica <strong>de</strong> muestreo extractivo <strong>de</strong>múltiples celdas. Analiza numerosaspropieda<strong>de</strong>s con ciclos <strong>de</strong> análisiscortos, bien ajustados a los requisitos<strong>de</strong> un optimizador APC (AdvancedProcess Control). Es una tecnologíabien establecida, pues cuenta concientos <strong>de</strong> instalaciones en todo elmundo que atestiguan su gran éxito.Históricamente, las mediciones espectroscópicaspara el control en línea <strong>de</strong>productos finales mezclados final hantenido dificulta<strong>de</strong>s para <strong>de</strong>sarrollar, yespecialmente mantener, mo<strong>de</strong>los <strong>de</strong>calibración robustos y estables. Estalimitación ha sido superada en granmedida por los <strong>de</strong>sarrollos más recientes,como la conmutación controlada<strong>de</strong> un analizador a otro, que facilitael mantenimiento y la transportabilidad<strong>de</strong> las calibraciones <strong>de</strong>sarrolladas.La explotación <strong>de</strong> nuevos e <strong>ingenio</strong>sosprocedimientos <strong>de</strong> mo<strong>de</strong>ladoquimiométrico ha contribuido a minimizarla sensibilidad <strong>de</strong> las calibracionesa los cambios <strong>de</strong> las fórmulas <strong>de</strong>mezclado.Mike Simpsonmike.b.simpson@gb.abb.comBibliografía[1] <strong>ABB</strong> Review Special Report Instrumentation &Analytics, May 2006, pages 54–59De las ondas a losdatosLa luz transmitida o emitida por ungas contiene abundante informaciónsobre la composición química <strong>de</strong>l gasen forma <strong>de</strong> líneas espectrales. Unespectrómetro basado en la transformada<strong>de</strong> Fourier sirve para <strong>de</strong>terminareste espectro. Revista <strong>ABB</strong> presentabrevemente dos <strong>de</strong> los principiosen que se basa el instrumento:el interferograma y la transformadarápida <strong>de</strong> Fourier.El físico Albert Abraham Michelson<strong>de</strong>sarrolló en la década <strong>de</strong> 1880 elinterferómetro que lleva su nombre. Enun interferómetro <strong>de</strong> Michelson 1 , laluz inci<strong>de</strong>nte 1a se divi<strong>de</strong> en dos partespor medio <strong>de</strong> un semiespejo divisor<strong>de</strong>l haz 1b . La luz reflejada recorre dosveces la distancia d1 al espejo 1c antes<strong>de</strong> volver al divisor <strong>de</strong> haz. Análogamente,la parte transmitida recorre dosveces la distancia d2 al espejo 1d . En lasalida 1e interfieren los dos rayos. Apartir <strong>de</strong> esta interferencia se obtienela información espectral.La interferenciaLa figura 2a muestra las ondas que sepropagan <strong>de</strong>s<strong>de</strong> una fuente puntual.En 2b y 2c se ha añadido otra fuenteidéntica, superponiéndose los patrones<strong>de</strong> ondas. En algunos puntos, lospatrones se combinan formando ondas<strong>de</strong> hasta amplitud doble (interferenciaconstructiva). En otros puntoslas ondas se anulan, creando zonas <strong>de</strong>calma (interferencia <strong>de</strong>structiva). Adiferencia <strong>de</strong> estos ejemplos bidimensionales,la interferencia en un interferómetrose produce principalmentea lo largo <strong>de</strong> un eje dado (mostradoen rojo en 2 ).En 2b , la distancia entre las fuentes(o diferencia 2(d 1-d 2) entre las longitu<strong>de</strong>s<strong>de</strong> las dos trayectorias) es unmúltiplo <strong>de</strong> la longitud <strong>de</strong> onda. Lamáxima interferencia constructiva sepresenta a lo largo <strong>de</strong>l eje. En 2c seha reducido la distancia en medioperíodo, originando interferencia<strong>de</strong>structiva. En términos más generales,la intensidad <strong>de</strong> la señal en cualquierpunto <strong>de</strong>l eje varía sinusoidalmenteen función <strong>de</strong> la distancia entrelas fuentes, con una longitud <strong>de</strong> ondaidéntica a la <strong>de</strong> la señal. Esta propiedadse utiliza para <strong>de</strong>terminar la longitud<strong>de</strong> onda <strong>de</strong> la señal:I 02(dI (d 1;λ) = {1+cos{2π1-d 2)}}2λDon<strong>de</strong> I 0es la amplitud <strong>de</strong>l rayo inci<strong>de</strong>nte1a y λ su longitud <strong>de</strong> onda.Utilizando un <strong>de</strong>tector a la salida <strong>de</strong>linterferómetro 1e y variando d 1esposible trazar esta función (interferograma)y <strong>de</strong>terminar los valores <strong>de</strong>I 0y λ.Una señal real medida consta normalmente<strong>de</strong> una amplia gama <strong>de</strong> frecuenciassuperpuestas. El interferogramaresultante es la suma <strong>de</strong> los interferogramas<strong>de</strong> sus componentes cromáticos.12(dI(d 1) = ∫ I 0(λ) {1+cos{2π1-d 2)}}d λ2λPara separar estas señales será necesarioun proceso posterior.1 Principio <strong>de</strong>l interferómetro <strong>de</strong> Michelsonc{ad 1d 2{ebdRevista <strong>ABB</strong> 3/200673

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!