View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
Sie wollen auch ein ePaper? Erhöhen Sie die Reichweite Ihrer Titel.
YUMPU macht aus Druck-PDFs automatisch weboptimierte ePaper, die Google liebt.
Abbildungsverzeichnis<br />
2.1 Skizze direkter Übergang ........................ 25<br />
2.2 Separation im Frequenzraum ...................... 28<br />
2.3 Vergleich Absorptionskoeffizienten ................... 32<br />
2.4 Aufbau einer a-Si:H-/μc-Si:H-Tandemsolarzelle ........... 34<br />
3.1 Schematischer Aufbau des optischen Rasternahfeldmikroskops . . 38<br />
3.2 Bilder zur Präparation und Einbau der Nahfeldsonde ........ 39<br />
3.3 Skizze und Bild zur Abstandsregelung ................ 40<br />
3.4 Aufbau des NSOMs für verschiedene Wellenlängen ......... 42<br />
3.5 Erstellung von Höhenprofilen durch lineare Interpolation ..... 44<br />
3.6 Vergleich von NSOM- und AFM-Topographien ........... 48<br />
3.7 Markierung an der Probenoberfläche ................. 49<br />
3.8 Präparationsschritte zur Variation der Oberflächenmorphologie . . 50<br />
3.9 Vergleich von AFM-Topographien vor und nach erneuter ZnO:Al-<br />
Deposition ................................. 51<br />
4.1 Prinzip der Streuung an rauen Oberflächen .............. 55<br />
4.2 FFT an NSOM-Messungen ........................ 56<br />
5.1 NSOM-Messung an texturiertem ZnO ................. 58<br />
5.2 Periodische Strukturen am Kraterrand ................. 59<br />
5.3 Evaneszenter Anteil der NSOM-Messung ............... 61<br />
5.4 Orts- und winkelaufgelöste Streuung ................. 62<br />
5.5 Streuanteile im Nahfeld ......................... 64<br />
5.6 Eigenschaften der Topographie versus Nahfeld ............ 65<br />
5.7 Evaneszente Felder am Kraterrand ................... 66<br />
5.8 Vergleich winkelaufgelöster Messungen ................ 68<br />
5.9 Häufigkeitsverteilungen im Nahfeld .................. 70<br />
5.10 Nahfeld verschiedener TCO-Typen ................... 72<br />
5.11 Streuanalyse verschiedener TCO-Oberflächen ............ 73<br />
5.12 Vergleich Fourieranalyse verschiedener Topographien ........ 74<br />
5.13 Übergang vom Nah- zum Fernfeld ................... 75<br />
5.14 Lokale Intensitäten im Nah- und Fernfeld ............... 76<br />
5.15 Evaneszenter Anteil in Abhängigkeit vom Abstand zur Oberfläche 77<br />
5.16 3D-Darstellung der Intensität über der Oberfläche .......... 79<br />
5.17 Vergleich NSOM-Messung mit FDTD-Simulation .......... 81<br />
6.1 Nahfeldeffekte an rauen a-Si:H- und μc-Si:H-Oberflächen ..... 84<br />
127