06.12.2012 Aufrufe

View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich

MEHR ANZEIGEN
WENIGER ANZEIGEN

Erfolgreiche ePaper selbst erstellen

Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.

5.2 Übergang zum Fernfeld 77<br />

dern lokalisierte Licht erreicht Intensitäten, die dem 2,5-fachen des Mittelwerts<br />

entsprechen. Im Übergangsbereich (b) ist besonders in den Punkten, an denen<br />

Kraterränder zusammenstoßen, die Intensität am größten. Im Vergleich zum<br />

Mittelwert im Nahfeld erhöht sich an diesen Stellen die Intensität um das 5-fache.<br />

Die Lichtlokalisierungen im Fernfeld (c) sind in dem gezeigten Bild sogar 7-mal<br />

größer als der Mittelwert aus der Nahfeldmessung. Offenbar sorgt nicht nur<br />

die lokale Struktur für eine Lokalisierung des Lichts, z. B. an den Kraterrändern,<br />

sondern auch das Zusammenspiel mehrerer Kraterstrukturen bewirkt eine<br />

Fokussierung des Lichts einige Mikrometer über der texturierten Oberfläche.<br />

������������������������������������������������<br />

���<br />

���<br />

���<br />

���<br />

���<br />

�������<br />

��������<br />

���<br />

����� ���� ���� ���� ����� ���<br />

����������������������������������������������<br />

��������<br />

Abbildung 5.15: Normierter Mittelwert des evaneszenten Anteils in Abhängigkeit vom<br />

Anteil der gemessenen Topographie zur Gesamtfläche. Betrachtet ist ein<br />

20 μm × 20 μm großes Messfeld bei einer Wellenlänge von 473 nm. Der<br />

Abstand der Nahfeldsonde zur Oberfläche ist stetig in 200 nm Schritten<br />

erhöht worden. Die rote Schraffur markiert den Wertebereich, der als<br />

Messrauschen interpretiert wird.<br />

Bevor auf diesen Aspekt noch weiter eingegangen werden soll, stellt sich die<br />

Frage, was mit dem evaneszenten Anteil in Abhängigkeit vom Abstand zur<br />

Oberfläche passiert. Ein 20 μm × 20 μm großes Messfeld wird dazu wiederholt<br />

mit einer schrittweisen Erhöhung des Abstands um ca. 200 nm vermessen. Aus

Hurra! Ihre Datei wurde hochgeladen und ist bereit für die Veröffentlichung.

Erfolgreich gespeichert!

Leider ist etwas schief gelaufen!