View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
Erfolgreiche ePaper selbst erstellen
Machen Sie aus Ihren PDF Publikationen ein blätterbares Flipbook mit unserer einzigartigen Google optimierten e-Paper Software.
5.2 Übergang zum Fernfeld 77<br />
dern lokalisierte Licht erreicht Intensitäten, die dem 2,5-fachen des Mittelwerts<br />
entsprechen. Im Übergangsbereich (b) ist besonders in den Punkten, an denen<br />
Kraterränder zusammenstoßen, die Intensität am größten. Im Vergleich zum<br />
Mittelwert im Nahfeld erhöht sich an diesen Stellen die Intensität um das 5-fache.<br />
Die Lichtlokalisierungen im Fernfeld (c) sind in dem gezeigten Bild sogar 7-mal<br />
größer als der Mittelwert aus der Nahfeldmessung. Offenbar sorgt nicht nur<br />
die lokale Struktur für eine Lokalisierung des Lichts, z. B. an den Kraterrändern,<br />
sondern auch das Zusammenspiel mehrerer Kraterstrukturen bewirkt eine<br />
Fokussierung des Lichts einige Mikrometer über der texturierten Oberfläche.<br />
������������������������������������������������<br />
���<br />
���<br />
���<br />
���<br />
���<br />
�������<br />
��������<br />
���<br />
����� ���� ���� ���� ����� ���<br />
����������������������������������������������<br />
��������<br />
Abbildung 5.15: Normierter Mittelwert des evaneszenten Anteils in Abhängigkeit vom<br />
Anteil der gemessenen Topographie zur Gesamtfläche. Betrachtet ist ein<br />
20 μm × 20 μm großes Messfeld bei einer Wellenlänge von 473 nm. Der<br />
Abstand der Nahfeldsonde zur Oberfläche ist stetig in 200 nm Schritten<br />
erhöht worden. Die rote Schraffur markiert den Wertebereich, der als<br />
Messrauschen interpretiert wird.<br />
Bevor auf diesen Aspekt noch weiter eingegangen werden soll, stellt sich die<br />
Frage, was mit dem evaneszenten Anteil in Abhängigkeit vom Abstand zur<br />
Oberfläche passiert. Ein 20 μm × 20 μm großes Messfeld wird dazu wiederholt<br />
mit einer schrittweisen Erhöhung des Abstands um ca. 200 nm vermessen. Aus