View/Open - JUWEL - Forschungszentrum Jülich
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5.2 Übergang zum Fernfeld 75<br />
Tabelle 5.3: Eigenschaften der Topographien aus Abb. 5.12. Die angegebene RMS-<br />
Rauhigkeit stellt einen für die jeweilige Topographie typischen Wert dar.<br />
Als Neigungswinkel ist der Mittelwert angegeben. σ, e μ und die Fläche A<br />
der Kurve ergeben sich aus der halblogarithmischen Anpassung.<br />
Oberfläche RMS Neigungs- σ e μ A σ 2 · A<br />
[nm] winkel [1/μm] [1/μm] [1/μm 2 ] [1/μm 4 ]<br />
Asahi-U 35,2 14 ◦ 3,61 ± 0,06 6,09 ± 0,19 16,2 ± 0,3 211 ± 8<br />
ZnO Standard 160,8 22 ◦ 2,73 ± 0,03 1,85 ± 0,03 37,3 ± 0,3 278 ± 7<br />
Neuchâtel Typ 2 193,3 34 ◦ 3,27 ± 0,06 2,63 ± 0,09 36,1 ± 0,5 386 ± 15<br />
5.2 Übergang zum Fernfeld<br />
Im vorherigen Abschnitt wurden die Ergebnisse von NSOM-Messungen nahe<br />
der Oberfläche vorgestellt. Dieser Abschnitt behandelt nun den Übergang vom<br />
Nahfeld zum Fernfeld. In Abb. 5.13 sind von links nach rechts vier NSOM-<br />
Messungen, gemessen bei einer Wellenlänge von 473 nm an einer stochastisch<br />
texturierten ZnO:Al-Oberfläche, in Abhängigkeit vom Abstand zwischen NSOM-<br />
Spitze und Oberfläche gezeigt. Im Nahfeld sind die im vorherigen Abschnitt<br />
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Abbildung 5.13: Entwicklung des optischen Signals in Abhängigkeit vom Abstand zwischen<br />
NSOM-Spitze und Oberfläche. Die Messungen wurden bei einer<br />
Wellenlänge von 473 nm in Transmission an einer stochastisch texturierten<br />
ZnO:Al-Oberfläche durchgeführt. Das rote Quadrat markiert den in<br />
Abb. 5.14 betrachteten Bereich.<br />
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