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76 Kapitel 5: Lokale optische Effekte an texturierten TCO-Oberflächen
des Kapitels beschriebenen Effekte zu erkennen. Durch das Zurückfahren der
NSOM-Spitze kann die Intensität des transmittierten Lichts in verschiedenen Abständen
zur Probe vermessen werden. Die angegebenen Abstände beziehen sich
auf den tiefsten Punkt, der gemessen wurde. Bei einem Abstand von ca. 600 nm
kommt die Spitze nur noch an wenigen Stellen mit der Topographie in Berührung.
Ein Vergleich der dortigen NSOM-Messung mit dieser Topographie zeigt, dass
dort, wo Topographie noch zu messen ist, auch die Effekte des Nahfelds noch
zu sehen sind. Ist die Topographie nicht mehr zu messen, wie z. B. im unteren
rechten Bereich des Bildes, so ist zu erkennen, dass zum einen die Lichtlokalisierungen
an den Kraterrändern deutlich hervortreten und zum anderen die
periodischen Strukturen verschwinden. Noch weiter weg von der Probenoberfläche
(weiter rechts in Abb. 5.13) verschwinden die feinen periodischen Strukturen
im Kraterinneren völlig und die Kraterränder erscheinen besonders hell. Dies ist
ein erster Hinweis dafür, dass das transmittierte Licht durch die Kraterstrukturen
fokussiert wird. Im Übergangsbereich zwischen Nah- und Fernfeld - der Abstand
der Spitze zur Oberfläche beträgt nur wenige Wellenlängen - existieren offenbar
noch stärkere Lichtlokalisierungen als direkt über der Oberfläche. Die vierte in
Abb. 5.13 gezeigte NSOM-Messung repräsentiert eine Messung im Fernfeld. Die
Kraterränder, die in den Messungen im Übergangsbereich noch hervortraten, sind
hier nicht mehr zu erkennen. Einzelne Punkte können den Strukturen aus den
vorherigen Messungen zugeordnet werden. Das NSOM-Bild insgesamt ähnelt
sehr stark einem Specklemuster, welches im Fernfeld beobachtet werden kann,
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(a)
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(b)
Abbildung 5.14: NSOM-Messung im (a) Nahfeld (Abstand zur Probe ca. 20 nm), (b)
Übergangsbereich (Abstand zur Probe ca. 1,2 μm) und (c) Fernfeld
(Abstand zur Probe ca. 2,2 μm) bei einer Wellenlänge von 473 nm an
einer stochastisch texturierten ZnO-Oberfläche. Die Bilder entsprechen
dem 3,33 μm × 3,33 μm großen Bildausschnitt aus Abb. 5.13. Die Intensitätsskala
ist für den besseren Vergleich auf den Mittelwert der
Nahfeldmessung normiert.
wenn hinreichend kohärentes Licht auf eine raue Oberfläche trifft [167, 168]. Der
rot markierte Bereich ist in Abb. 5.14 vergrößert dargestellt. Die Intensitätsskala
ist auf den Mittelwert der Nahfeldmessung (a) normiert. Das an den Kraterrän-
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(c)
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