Mécanismes d'évolution de texture au cours du recuit d'alliages de ...
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Chapitre 1: Métho<strong>de</strong>s expérimentales<br />
acétique glacial, et 20% d'aci<strong>de</strong> perchlorique (70% pureté). Ce polissage est effectué<br />
sous une tension <strong>de</strong> 17V pendant 10s et à une température proche <strong>de</strong> 5°C,<br />
– pour le T40, l'emploi <strong>de</strong> peroxy<strong>de</strong> d'hydrogène mélangé à la solution d'OPS permet <strong>de</strong><br />
s'affranchir <strong>de</strong> l'étape <strong>de</strong> polissage électrolytique.<br />
1.2. Caractérisation <strong>de</strong>s matéri<strong>au</strong>x<br />
2.a) Caractérisation <strong>de</strong> la <strong>texture</strong> globale<br />
2.a.1 Mesure par diffraction <strong>de</strong> Rayons X<br />
Les échantillons ainsi dénués d'écrouissage <strong>de</strong> surface sont mesurés à l'ai<strong>de</strong> d'un<br />
goniomètre <strong>de</strong> <strong>texture</strong>, muni d'une anticatho<strong>de</strong> <strong>de</strong> Cobalt. Le faisce<strong>au</strong> est canalisé par un<br />
collimateur <strong>de</strong> 0,8mm <strong>de</strong> diamètre, et le détecteur est placé à 250mm <strong>de</strong> l'échantillon,<br />
avec une ouverture <strong>de</strong>s fentes verticales <strong>de</strong> 6mm.<br />
Les 5 figures <strong>de</strong> pôles mesurées sont données dans le table<strong>au</strong> 1-4. La mesure <strong>de</strong> ces<br />
figures a été effectuée avec un pas <strong>de</strong> 2,5° en déclinaison, 5° en azimut et un temps <strong>de</strong><br />
comptage <strong>de</strong> 6s par pas.<br />
Plan cristallographique (00.2) {10.1} {10.2} {11.0} {10.3}<br />
2Θ (anticatho<strong>de</strong> <strong>de</strong> Co) 40,6° 42,5° 56,3° 67,10° 75,33°<br />
2.a.2 Calcul <strong>de</strong>s <strong>texture</strong>s<br />
Table<strong>au</strong> 1-4: plans cristallographiques mesurés par DRX<br />
Pour déterminer la Fonction <strong>de</strong> Distribution <strong>de</strong>s Orientations, f(g), on doit résoudre<br />
l'équation fondamentale:<br />
P hi y=N i . I hi y= ∮<br />
hi // y<br />
f gdg<br />
où Phi(y) est la <strong>de</strong>nsité <strong>de</strong> pôles dans la direction <strong>de</strong> l'échantillon, équivalente <strong>au</strong><br />
pro<strong>du</strong>it <strong>de</strong>s intensités expérimentales <strong>de</strong>s plans cristallins <strong>de</strong> normale par le<br />
coefficient <strong>de</strong> normalisation Ni.<br />
Cette détermination est réalisée par la métho<strong>de</strong> harmonique [Bun65], qui utilise <strong>de</strong>s<br />
développements en séries <strong>de</strong> Phi(y) et f(g) sur la base <strong>de</strong> fonctions harmoniques. Dans le<br />
cas <strong>de</strong> <strong>texture</strong>s mesurées par DRX, ce calcul a été effectué à l'ai<strong>de</strong> <strong>du</strong> logiciel TEXEVAL,<br />
initialement développé <strong>au</strong> LETAM [Wag96], avec les paramètres suivants:<br />
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