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Mécanismes d'évolution de texture au cours du recuit d'alliages de ...

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Chapitre 1: Métho<strong>de</strong>s expérimentales<br />

acétique glacial, et 20% d'aci<strong>de</strong> perchlorique (70% pureté). Ce polissage est effectué<br />

sous une tension <strong>de</strong> 17V pendant 10s et à une température proche <strong>de</strong> 5°C,<br />

– pour le T40, l'emploi <strong>de</strong> peroxy<strong>de</strong> d'hydrogène mélangé à la solution d'OPS permet <strong>de</strong><br />

s'affranchir <strong>de</strong> l'étape <strong>de</strong> polissage électrolytique.<br />

1.2. Caractérisation <strong>de</strong>s matéri<strong>au</strong>x<br />

2.a) Caractérisation <strong>de</strong> la <strong>texture</strong> globale<br />

2.a.1 Mesure par diffraction <strong>de</strong> Rayons X<br />

Les échantillons ainsi dénués d'écrouissage <strong>de</strong> surface sont mesurés à l'ai<strong>de</strong> d'un<br />

goniomètre <strong>de</strong> <strong>texture</strong>, muni d'une anticatho<strong>de</strong> <strong>de</strong> Cobalt. Le faisce<strong>au</strong> est canalisé par un<br />

collimateur <strong>de</strong> 0,8mm <strong>de</strong> diamètre, et le détecteur est placé à 250mm <strong>de</strong> l'échantillon,<br />

avec une ouverture <strong>de</strong>s fentes verticales <strong>de</strong> 6mm.<br />

Les 5 figures <strong>de</strong> pôles mesurées sont données dans le table<strong>au</strong> 1-4. La mesure <strong>de</strong> ces<br />

figures a été effectuée avec un pas <strong>de</strong> 2,5° en déclinaison, 5° en azimut et un temps <strong>de</strong><br />

comptage <strong>de</strong> 6s par pas.<br />

Plan cristallographique (00.2) {10.1} {10.2} {11.0} {10.3}<br />

2Θ (anticatho<strong>de</strong> <strong>de</strong> Co) 40,6° 42,5° 56,3° 67,10° 75,33°<br />

2.a.2 Calcul <strong>de</strong>s <strong>texture</strong>s<br />

Table<strong>au</strong> 1-4: plans cristallographiques mesurés par DRX<br />

Pour déterminer la Fonction <strong>de</strong> Distribution <strong>de</strong>s Orientations, f(g), on doit résoudre<br />

l'équation fondamentale:<br />

P hi y=N i . I hi y= ∮<br />

hi // y<br />

f gdg<br />

où Phi(y) est la <strong>de</strong>nsité <strong>de</strong> pôles dans la direction <strong>de</strong> l'échantillon, équivalente <strong>au</strong><br />

pro<strong>du</strong>it <strong>de</strong>s intensités expérimentales <strong>de</strong>s plans cristallins <strong>de</strong> normale par le<br />

coefficient <strong>de</strong> normalisation Ni.<br />

Cette détermination est réalisée par la métho<strong>de</strong> harmonique [Bun65], qui utilise <strong>de</strong>s<br />

développements en séries <strong>de</strong> Phi(y) et f(g) sur la base <strong>de</strong> fonctions harmoniques. Dans le<br />

cas <strong>de</strong> <strong>texture</strong>s mesurées par DRX, ce calcul a été effectué à l'ai<strong>de</strong> <strong>du</strong> logiciel TEXEVAL,<br />

initialement développé <strong>au</strong> LETAM [Wag96], avec les paramètres suivants:<br />

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