Mécanismes d'évolution de texture au cours du recuit d'alliages de ...

Chapitre 1: Méthodes expérimentales
Nous utiliserons donc un critère basé sur les variations d'orientation du cristal, qui semble
avoir une signification physique moins discutable.
0.035
0.03
0.025
0.02
0.015
0.01
0.005
Indice de contraste de bande Indice de contraste de bande
Figure1-7: distributions du contraste de bandes pour deux composantes de textures ( et
parallèles à DL0), mesurées sur deux sections orthogonales d'un même échantillon (LS60%
recristallisé)
Le critère simple de désorientation moyenne peut ainsi être utilisé pour discriminer les
zones recristallisées. Cette désorientation interne moyenne pouvant augmenter avec la
taille de grains, certaines précautions sont nécessaires:
– un critère de désorientation interne de 2° est approprié dans la plupart des cas, sauf
pour les états de début de recristallisation où un critère plus restrictif de 1° permet
d'éviter la prise en compte de petites cellules restaurées dans la fraction recristallisée,
– en fin de recristallisation il est nécessaire de vérifier manuellement les plus gros grains
apparaissant déformés, afin d'établir si ils montrent un profil de désorientation continu
L'utilisation d'un critère tel que 1° ou 2° semble raisonnable. Des tentatives de
discrimination des populations de grains de désorientation inférieure à 1° ont montré que
l'orientation du grain pouvait influencer légèrement cette désorientation. En effet, nous
avons vu que l'orientation du cristal influe sur la qualité du cliché de diffraction. Pour les
grains au sein desquels les désorientations internes sont inférieures à 1° (fig. 1-8), la
variation d'orientation est principalement due à l'imprécision du dispositif EBSD (1° est
l'incertitude généralement admise pour la détection d'orientation avec de tels dispositifs).
Cette imprécision dépend fortement de la qualité des clichés de diffraction, et donc de
l'orientation.
//DL
//DL
Section DL-DN
0
0 50 100 150
0.035
0.03
0.025
0.02
0.015
0.01
0.005
0
//DL
//DL
Section DT-DN
0 50 100 150
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