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Mécanismes d'évolution de texture au cours du recuit d'alliages de ...

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Chapitre 1: Métho<strong>de</strong>s expérimentales<br />

Afin <strong>de</strong> comparer <strong>de</strong>s <strong>texture</strong>s <strong>de</strong> manière quantitative, nous avons quelquefois utilisé la<br />

fonction <strong>de</strong> différence <strong>de</strong> <strong>texture</strong> Δf, qui est définie comme la différence <strong>de</strong>s intensités<br />

<strong>de</strong> <strong>de</strong>ux fonctions en chaque point <strong>de</strong> l'espace <strong>de</strong>s orientations:<br />

Δf(g)= f2(g)-f1(g)<br />

(en pratique, f1 et f2 sont discrétisées sur l'espace <strong>de</strong>s orientations par pas <strong>de</strong> 5°)<br />

L'indice <strong>de</strong> différence <strong>de</strong> <strong>texture</strong> peut alors être calculé sur cette fonction. La fraction<br />

volumique réorientée est également calculée comme l'intégrale <strong>de</strong>s valeurs positives <strong>de</strong><br />

la différence <strong>de</strong> <strong>texture</strong>:<br />

V dif = ∮ f g dg =<br />

f g 0<br />

1<br />

2∮∣ f g∣dg<br />

2.b) Caractérisation <strong>de</strong> la microstructure<br />

La caractérisation <strong>de</strong> la microstructure a été principalement faite en microscopie<br />

électronique à balayage sur un microscope JEOL JSM 6500-F muni d'un canon à effet <strong>de</strong><br />

champ, sous une tension d'accélération <strong>de</strong> 15kV.<br />

Le système EBSD Channel5 <strong>de</strong> HKL Technology nous a permis d'acquérir <strong>de</strong>s<br />

cartographies d'orientation sur les différents échantillons, que nous avons pu analyser à<br />

l'ai<strong>de</strong> <strong>de</strong>s logiciels <strong>de</strong> post-traitement <strong>de</strong> Channel5.<br />

L'utilisation <strong>de</strong> cartographies d'orientation permet notamment:<br />

– <strong>de</strong> distinguer les différents grains <strong>de</strong>s microstructures recristallisées, et d'obtenir <strong>de</strong>s<br />

statistiques sur leurs attributs,<br />

– <strong>de</strong> séparer, souvent <strong>de</strong> manière univoque, les grains déformés <strong>de</strong>s grains<br />

recristallisés,<br />

– <strong>de</strong> quantifier les gradients d'orientation dans les microstructures déformées,<br />

enfin, les cartographies d'orientation nous montrent d'une manière générale les<br />

orientations à une échelle locale et nous permettent ainsi <strong>de</strong> les corréler avec les<br />

différentes caractéristiques micostructurales.<br />

2.b.1 Traitement <strong>de</strong>s cartographies d'orientation<br />

La cartographie d'orientation est constituée d'une liste <strong>de</strong> pixels <strong>de</strong> coordonnées (x;y)<br />

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