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Dottorato di Ricerca in Scienze della Terra (XVI ciclo)

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CAPITOLO 3<br />

Indag<strong>in</strong>e m<strong>in</strong>eralogica al microscopio elettronico a scansione (SEM)<br />

La maggior parte delle sezioni sottili delle sieniti oggetto <strong>di</strong> stu<strong>di</strong>o sono state sottoposte ad<br />

uno stu<strong>di</strong>o <strong>di</strong> dettaglio al microscopio elettronico a scansione <strong>in</strong> elettroni secondari e<br />

retro<strong>di</strong>ffusi, con annessa microanalisi qualitativa, che ha permesso l’identificazione <strong>di</strong> 32 fasi<br />

m<strong>in</strong>eralogiche accessorie e gruppi <strong>di</strong> m<strong>in</strong>erali a REE e HFSE.<br />

3.1 - Metodologie analitiche<br />

L’<strong>in</strong>dag<strong>in</strong>e m<strong>in</strong>eralogica e le analisi qualitative dei m<strong>in</strong>erali contenenti REE e HFSE sono<br />

state ottenute utilizzando un Microscopio Elettronico a Scansione (SEM) Philips 515<br />

corredato <strong>di</strong> un sistema <strong>di</strong> Microanalisi a Dispersione <strong>di</strong> Energia EDAX PV9900 presso il<br />

Centro <strong>di</strong> Analisi Strutturali Avanzate (C.A.S.A) dell’Università <strong>di</strong> Urb<strong>in</strong>o, ed un Philips<br />

XL30-super UTW del Laboratorio Inter<strong>di</strong>partimentale <strong>di</strong> Microscopia Elettronica<br />

dell’Università <strong>di</strong> Roma Tre.<br />

Durante il funzionamento del SEM un filo <strong>di</strong> tungsteno eccitato elettricamente emette un<br />

fascio <strong>di</strong> elettroni che viene scansionato su un’area rettangolare del campione. Gli elettroni<br />

emessi dal campione vengono raccolti da un detector e il segnale viene mostrato <strong>in</strong> uno<br />

schermo. Con l’uso del SEM c’è la possibilità <strong>di</strong> ottenere sia immag<strong>in</strong>i <strong>in</strong> elettroni secondari<br />

(Secondary Electrons; SE) che <strong>in</strong> elettroni retro<strong>di</strong>ffusi (Back-Scattered Electrons; BSE).<br />

Infatti, il campione colpito dal fascio elettronico emette due tipi <strong>di</strong> elettroni. Quelli secondari<br />

vengono emessi dalle porzioni superficiali del m<strong>in</strong>erale, hanno un’energa <strong>di</strong> alcuni eV e<br />

vengono utilizzati per ottenere immag<strong>in</strong>i tri<strong>di</strong>mensionali. Tale tecnica non è molto utile per il<br />

riconoscimento dei m<strong>in</strong>erali <strong>in</strong> quanto riporta la morfologia ma non la composizione dei<br />

cristalli. La Fig. 3.1 mostra l’immag<strong>in</strong>e <strong>in</strong> elettroni secondari <strong>di</strong> cristalli <strong>di</strong>vergenti variolitici<br />

<strong>di</strong> egir<strong>in</strong>a nel clasto nefel<strong>in</strong>sienitico TE5 (Tenerife). Gli elettroni emessi dal filamento che<br />

entrano nella struttura del m<strong>in</strong>erale con traiettorie rettil<strong>in</strong>e, vengono deviati per l’<strong>in</strong>terazione<br />

con il nucleo degli atomi costituenti il materiale <strong>in</strong> esame. L’energia (migliaia <strong>di</strong> eV) degli<br />

elettroni riemessi per retro<strong>di</strong>ffusione, viene convertita <strong>in</strong> <strong>in</strong>tensità lum<strong>in</strong>osa ed è <strong>di</strong>rettamente<br />

proporzionale al peso atomico me<strong>di</strong>o del m<strong>in</strong>erale <strong>in</strong> esame. Per tali motivi l’analisi degli<br />

elettroni retro<strong>di</strong>ffusi risulta particolarmente utile per rilevare variazioni composizionali (i.e.<br />

m<strong>in</strong>erali a composizioni <strong>di</strong>fferenti) all’<strong>in</strong>terno dell’area <strong>di</strong> <strong>in</strong>dag<strong>in</strong>e.<br />

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