PRACA DOKTORSKA Zale ność własności strukturalnych ...

2 2( − Y ) ⎤1⎡ Y1 ∑ io icσ = ⎢−jM jj⎥(B24)⎢⎣N − P + C ⎥⎦gdzie,−1Mjjsą to elementy diagonalne odwróconej macierzy:Mjk= −∑i⎡2∂ Y ⎛ ⎞ ⎤ic⎛ ⎞⎢( ) ⎜∂Yic⎟∂Yic2 w⎜⎟iYio− Yic−⎥ ;⎢⎣∂xj∂xk⎝ ∂xj ⎠⎝∂xk⎠⎥⎦x j i x k – zestaw tych samych udokładnianych parametrów;N - liczba punktów dyfraktogramu biorących udział w dopasowaniu;P - liczba udokladnianych parametrów.Błędy obliczone w taki sposób są minimalnymi możliwymi błędami obliczeń i pochodzą odbłędów przypadkowych. W takiej postaci nie należy ich utożsamiać z „prawdziwymi” błędamieksperymentalnymi.Według pracy Bérara [5] dla uzyskania realnych wartości otrzymanych błędów muszą byćpomnożone przez czynnik korekty niepewności systematycznych SCOR (tę metodę zastosowano wniniejszej pracy).Dla otrzymania dobrych wyników i uniknięcia problemów ze złą zbieżnością udokładnianychparametrów zalecane jest użycie właściwego modelu startowego (na podstawie wstępnej analizęfazowej) i trzymanie się optymalnej strategii udokładniania, włączając parametry do udokładnianiastopniowo w następnej kolejności:1. Czynnik skali.2. Parametry tła.3. Stałe sieci.4. Błąd zera skali (lub zsunięcie próbki z osi)5. FWHM.6. Czynnik temperaturowy.7. Położenia atomów, obsadzenia pozycji.8. Parametry kształtu refleksu.9. Parametry asymetrii refleksu.10. Uprzywilejowana orientacja.Nie mniej ważną rzeczą są zasady przygotowania próbki i zasady pomiaru, które pomagająuzyskać dobre dane dyfraktometryczne dla udokładniania:- Wielkość krystalitów (1-10 mikronów);- Brak uprzywilejowanej orientacji;- Dobra statystyka zliczeń (długi czas pomiaru oraz obrót próbki w trakcie pomiaru);- Szeroki zakres kątowy;- Krok kątowy (0.01-0.02 stopnia 2θ);- Odpowiednia optyka rentgenowska.103