PRACA DOKTORSKA Zale ność własności strukturalnych ...

III.4. Techniki dyfrakcyjne zastosowane w warunkach wysokiej i niskiejtemperaturyBadania dyfrakcyjne materiałów w warunkach wysokiej i niskiej temperatury zostały wykonane wośrodku synchrotronowym HASYLAB (DESY) Hamburg, Niemcy, na linii pomiarowej B2. Liniapomiarowa B2 (zob. rozdział III.2.1) jest przeznaczona do wysoko- i średniorozdzielczej dyfrakcjiproszkowej na próbkach cylindrycznych lub płaskich oraz do badań reflektometrycznych (analizacienkich warstw). Rysunek III.2.1c pokazuje ogólny schemat układu pomiarowego. Wyjściowa białawiązka synchrotronowa jest formowana za pomocą dwuodbiciowego monochromatora Si(111)(rysunek III.2.1b) ustawionego na drodze białej wiązki pierwotnej. Monochromator pozwala nasterowanie długością fali wiązki pierwotnej w zakresie od 0.35 Å do 2.4 Å.Wymiary równoległej wiązki padającej na próbkę określone są przez układ szczelin. Najczęściejstosuje się wymiary wiązki 15 mm × 1 mm.Rysunek III.2.1. (a) licznik OBI typu „image-plate” i komora wysokotemperaturowa;(b) komora jonizacyjna (służy do monitorowania natężenia wiązki padającej) iobudowa dwuodbiciowego monochromatora; (c) ogólny schemat układupomiarowego linii B2.19