Eliete Pereira - LEPTEN - Universidade Federal de Santa Catarina

4 ANÁLISES DE DADOS 54alcançada numa região um pouco mais afastada do furo do parafuso, diminuindoprogressivamente, tendendo a zero perto das bordas.Mittelbach et al. (1994) obtiveram valores de pressão superiores aos medidos porGonçalves, embora ambos tenham aplicado o mesmo método (célula de carga mais filmesensitivo). Tanto os valores de pressão fornecidos por Gonçalves (2000) quanto oscorrigidos (conforme proposto neste trabalho), são menores do que os de Mittelbach, paraas juntas aparafusadas de alumínio.Vogd (1990) estudou junções aparafusadas em um aparato experimental semelhanteao utilizado por Gonçalves (2000), em termo de distribuição de condutância térmica decontatos. Curvas relativas aos resultados de condutância térmica obtidos por este autor parajuntas aparafusadas sem material interfacial para placas de alumínio são mostradas naFigura 4.16 e Figura 4.17 para junções formadas por chapas de espessura diferentes (t 1 < t 2 ,para Figura 4.16 e t 1 > t 2 para Figura 4.17). Os resultados deste autor mostram que, quantomaior for a carga axial aplicada a junta aparafusada, maiores os níveis da condutânciatérmica observada. Em ambos os casos estas condutâncias tendem a diminuir e se igualar,para as regiões mais afastadas do parafuso.hc [W/(m 2 K)]3500030000250002000015000100002455 N3336 N4433 N66666 N13388 N500000 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14r/aFigura 4.16 – Condutância térmica de contato para t 1