Eliete Pereira - LEPTEN - Universidade Federal de Santa Catarina

4 ANÁLISES DE DADOS 55hc [W/(m 2 K)]2500020000150001000050002226 N3385 N4508 N6736 N8896 N12733 N00 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 13 14r/aFigura 4.17 – Condutância térmica de contato para t 1 >t 2 de Vogd.Mittlebach et al. (1994) estudaram juntas aparafusadas de Al-Al com a mesmaconfiguração utilizada por Gonçalves, empregando o mesmo aparato experimental, uma vezque o seu trabalho foi desenvolvido no mesmo laboratório nos EUA. Tanto o trabalho deVogd (1990) quanto de Mitllebach et al. (1994), apresenta comportamentos (tendências)semelhantes entre si para as medidas de condutância térmica; já os dados de Gonçalvesdiscordam com estes trabalhos feitos anteriormente, como mostrado no Apêndice E.4.4 ConclusõesA partir da análise apresentada neste capítulo, algumas conclusões importantespodem ser tiradas.Com relação à distribuição de pressão em superfícies em contato em juntasaparafusadas, observa-se claramente a influência do tamanho da cabeça do parafuso. Issojá era de certo modo esperado, pois o raio da cabeça do parafuso determina a área na qualforça é aplicada sobre a junta aparafusada. Porém, este comportamento não segue umpadrão identificável e varia para cada configuração de junta aparafusada observada. Adistribuição de pressão na interface de contato é, de modo geral, mais afetada pelo tipo dematerial utilizado e pela força axial aplicada do que pelo tipo de parafuso empregado.Curti et al. (1985), Bradley et al. (1971), Ito et al. (1979), verificaram como nopresente trabalho a influência, tanto do tipo de parafuso quanto das espessuras das placas