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3.1. CHARAKTERISIERUNG BEI HOMOGENER BELEUCHTUNG 43<br />
Abbildung 3.1:<br />
Schematische Darstellung des Messaufbaus zur m-Linienspektroskopie.<br />
Polymerfilm ein. Eine Phasenanpassung der Wellenvektoren erfolgt durch Veränderung<br />
des Einfallswinkels αPrisma im Koppelprisma, wodurch nacheinander diskrete Moden im<br />
Film angeregt werden. Eine eindeutige Bestimmung von Schichtdicke und Brechungsin-<br />
dex erfordert mindestens zwei Moden, deren effektiver Brechungsindex Neff größer als der<br />
Brechungsindex nSubstrat des verwendeten Substrates ist (nSubstrat =1, 52). Um dies ex-<br />
perimentell umzusetzen, befindet sich der Prismenhalter auf einem computergesteuerten<br />
Drehtisch. Die im Prisma nach zwei Reflexionen wieder austretende Intensität wird mit<br />
einem Photodetektor drehwinkelabhängig gemessen und mit einem Computer aufgezeich-<br />
net. Mit den Formeln der transversalen Resonanzbedingung (TRB) für planare optische<br />
Wellenleiter [153] lassen sich die gesuchten Filmparameter numerisch ermitteln.<br />
Bei optisch anisotropen Schichten muss die Polarisation des Messlichtes berücksichtigt<br />
werden, da sich in dünnen Polymerschichten die optische Achse im Allgemeinen senkrecht<br />
zum Film einstellt. Die Anregung von TE-Moden (Polarisationsrichtung in der Filmebe-<br />
ne) stellt in diesem Fall die isotrope Wellenausbreitung dar, so dass sich hierdurch der<br />
ordentliche Brechungsindex no = nTE in einer beliebigen Richtung parallel zur xy-Ebene<br />
bestimmen lässt. Bei der Auswertung eines TM-Modenspektrums (Polarisationsrichtung<br />
in einer Ebene senkrecht zur Filmebene) muss hingegen der ordentliche Brechungsindex<br />
no = nTE in der Rechnung berücksichtigt werden. Daraus resultiert der zur Schicht verti-<br />
kal orientierte außerordentliche Brechungsindex neo = nTM.Nurwenndieobengenannte<br />
Symmetrieeigenschaft gegeben ist, erhält man aus dem TE- und TM-Spektrum identische<br />
Schichtdicken.<br />
Bei jedem untersuchten Film wurden winkelabhängige Spektren mit TE- und TM-polarisiertem<br />
Licht aufgenommen. Die Auswertung der Spektren erfolgte mit Hilfe eines selbstgeschrei-<br />
benen Computerprogramms.