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3.1. CHARAKTERISIERUNG BEI HOMOGENER BELEUCHTUNG 43<br />

Abbildung 3.1:<br />

Schematische Darstellung des Messaufbaus zur m-Linienspektroskopie.<br />

Polymerfilm ein. Eine Phasenanpassung der Wellenvektoren erfolgt durch Veränderung<br />

des Einfallswinkels αPrisma im Koppelprisma, wodurch nacheinander diskrete Moden im<br />

Film angeregt werden. Eine eindeutige Bestimmung von Schichtdicke und Brechungsin-<br />

dex erfordert mindestens zwei Moden, deren effektiver Brechungsindex Neff größer als der<br />

Brechungsindex nSubstrat des verwendeten Substrates ist (nSubstrat =1, 52). Um dies ex-<br />

perimentell umzusetzen, befindet sich der Prismenhalter auf einem computergesteuerten<br />

Drehtisch. Die im Prisma nach zwei Reflexionen wieder austretende Intensität wird mit<br />

einem Photodetektor drehwinkelabhängig gemessen und mit einem Computer aufgezeich-<br />

net. Mit den Formeln der transversalen Resonanzbedingung (TRB) für planare optische<br />

Wellenleiter [153] lassen sich die gesuchten Filmparameter numerisch ermitteln.<br />

Bei optisch anisotropen Schichten muss die Polarisation des Messlichtes berücksichtigt<br />

werden, da sich in dünnen Polymerschichten die optische Achse im Allgemeinen senkrecht<br />

zum Film einstellt. Die Anregung von TE-Moden (Polarisationsrichtung in der Filmebe-<br />

ne) stellt in diesem Fall die isotrope Wellenausbreitung dar, so dass sich hierdurch der<br />

ordentliche Brechungsindex no = nTE in einer beliebigen Richtung parallel zur xy-Ebene<br />

bestimmen lässt. Bei der Auswertung eines TM-Modenspektrums (Polarisationsrichtung<br />

in einer Ebene senkrecht zur Filmebene) muss hingegen der ordentliche Brechungsindex<br />

no = nTE in der Rechnung berücksichtigt werden. Daraus resultiert der zur Schicht verti-<br />

kal orientierte außerordentliche Brechungsindex neo = nTM.Nurwenndieobengenannte<br />

Symmetrieeigenschaft gegeben ist, erhält man aus dem TE- und TM-Spektrum identische<br />

Schichtdicken.<br />

Bei jedem untersuchten Film wurden winkelabhängige Spektren mit TE- und TM-polarisiertem<br />

Licht aufgenommen. Die Auswertung der Spektren erfolgte mit Hilfe eines selbstgeschrei-<br />

benen Computerprogramms.

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