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3.1. CHARAKTERISIERUNG BEI HOMOGENER BELEUCHTUNG 45
Abbildung 3.3:
a) Schematisch Darstellung des experimentellen Mehrschichtsystems bei der Metallfilm
verstärkten Leckwellenspektroskopie, b) Experimentelles TM-Reflexionsspektrum.
lektiven Anregung der Leitungselektronen im Metall und manifestiert sich in einer entlang
der Metallschicht propagierenden Oberflächenwelle, welche als Oberflächenplasmonreso-
nanz bezeichnet wird [67].
Eine Änderung der Phasenbedingung erfolgt analog zur m-Linienspektroskopie durch Ro-
tation des Prismas mittels eines computergesteuerten Drehtisches. Die sich hierbei än-
dernde reflektierte Intensität wird über einen Photodetektor von einem Computer aufge-
zeichnet.
Die Auswertung der Spektren erfolgte mit Hilfe eines von Herr Dipl. Phys. Markus Leitz
geschriebenen Computerprogramms namens RSim [100]. Diesem liegt das mathematische
Modell der Transfermatrixmethode nach Yeh [69] zugrunde und berechnet die Reflexions-
und Transmissionseigenschaften einer beliebigen Vielfachschichtfolge als Funktion der Pa-
rameter Schichtdicke, Brechungsindex, Absorption und Messlichtpolarisation. Die experi-
mentellen Spektren lassen sich so durch Variation der Parameter simulieren.