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Untersuchung mikromagnetischer Strukturen in dünnen Schichten

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3 EXPERIMENTELLER AUFBAU UND PROBENPRÄPARATION 34<br />

2.3 der Transport auf hohem Potential, um den E<strong>in</strong>fluß externer Magnetfelder zu<br />

m<strong>in</strong>imieren,<br />

2.4 die abschließende Abremsung auf das E<strong>in</strong>gangspotential des CMA von 300 V,<br />

2.5 e<strong>in</strong>e möglichst e<strong>in</strong>fach zu handhabende Verschiebbarkeit des Fokus <strong>in</strong> den CMA<br />

h<strong>in</strong>e<strong>in</strong>, um den g-Detektor benutzen zu können27 ,<br />

2.6 e<strong>in</strong> ger<strong>in</strong>ger Strahldurchmesser und ger<strong>in</strong>ge Strahldivergenz im Fokus, um die Verluste<br />

durch Strahlaufweitung <strong>in</strong> CMA und Sp<strong>in</strong>detektor zu m<strong>in</strong>imieren und<br />

2.7 die Notwendigkeit, bei feststehendem CMA-E<strong>in</strong>gang, die Länge der Optik ver-<br />

ändern zu können.<br />

Nicht berücksichtigt werden können<br />

3.1 die 10 o -Verkippung der Oberflächennormalen gegen die optische Achse und<br />

3.2 die Verwendung von m<strong>in</strong>d. zwei Quadrupolen anstatt zyl<strong>in</strong>dersymmetrischer L<strong>in</strong>sen,<br />

um apparative Asymmetrien auszugleichen.<br />

In den Simulationen zeigt sich, daß vor allem den ersten L<strong>in</strong>sen entscheidende Bedeutung<br />

für die optischen Eigenschaften des gesamten Systems zukommt. E<strong>in</strong>erseits müssen diese<br />

Elemente die anfangs divergenten Elektronenstrahlen bündeln, andererseits dürfen sie<br />

ke<strong>in</strong>en Zwischenfokus herbeiführen, da sonst die fokussierenden Eigenschaften am Ausgang<br />

bee<strong>in</strong>trächtigt werden. Der Innendurchmesser der vorderen L<strong>in</strong>senelemente sollte<br />

zudem möglichst groß se<strong>in</strong>, um auch Elektronen e<strong>in</strong>fangen zu können, die unter großen<br />

W<strong>in</strong>keln zur Oberflächennormalen starten. Die äußeren Abmessungen der ersten Elemente<br />

werden aber durch e<strong>in</strong>e nötige Abschirmung zur Verh<strong>in</strong>derung äußerer Streufelder<br />

begrenzt. Es erweist sich als günstig, die anfängliche Beschleunigung wie auch spätere<br />

Abbremsung der Elektronen mittels mehrerer L<strong>in</strong>sen mit nicht zu unterschiedlichen Potentialen<br />

durchzuführen, weil sonst der eben bereits angesprochene Zwischenfokus wegen<br />

der großen Länge der Optik kaum vermieden werden kann.<br />

Der notwendigen Beweglichkeit wird durch die Trennung der Optik <strong>in</strong> zwei Teile Rechnung<br />

getragen: Die ersten fünf L<strong>in</strong>sen (Q1, L1, L2, Q2 und L3) bef<strong>in</strong>den sich im vorderen,<br />

beweglichen Abschnitt (s. Abb. 12). Dort werden die Elektronen gebündelt und auf das<br />

Transportpotential von 1500V angehoben. Im feststehenden Teil (L4, Q3 und L5 - L8)<br />

27Im Ablenk-Betrieb bildet der CMA den Fokus am Ausgang der Optik auf den dann benutzten<br />

Ausgang ab. Im Geradeaus-Betrieb dagegen ist der CMA feldfrei und die aus der Optik kommenden<br />

Elektronen folglich divergent. Um nicht zu große Verluste durch Strahlaufweitung zu haben, wird deshalb<br />

der Fokus der Optik möglichst weit <strong>in</strong> den CMA h<strong>in</strong>e<strong>in</strong>geschoben. Am Geradeaus-Ausgang f<strong>in</strong>det<br />

dann die Bündelung und anschließende Fokussierung der Elektronen auf den Kristall statt.

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