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Untersuchung mikromagnetischer Strukturen in dünnen Schichten

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3 EXPERIMENTELLER AUFBAU UND PROBENPRÄPARATION 48<br />

Die Kanten s<strong>in</strong>d scharf und verbreitern sich auch nicht bei größer werdendem Abstand<br />

der Maske von der Kristalloberfläche. Bei maximaler Divergenz des Aufdampfstrahls (s.<br />

Abb. 19b), ist die Struktur verkle<strong>in</strong>ert und von e<strong>in</strong>em Rahmen ger<strong>in</strong>ger Schichtdicke<br />

umgeben. E<strong>in</strong>e geometrische Analyse liefert, daß die Breite des Halbschattenbereiches<br />

<strong>in</strong> erster Näherung proportional zu Ausdehnung der Aufdampfquelle und Maskenabstand<br />

ist. Aufgrund der endlichen Dicke der Maske ergäbe sich auch bei Auflegen e<strong>in</strong>e<br />

Restunschärfe, die <strong>in</strong> die Struktur h<strong>in</strong>e<strong>in</strong>ragt. Hebt man die Maske von der Probe ab,<br />

verbreitern sich die <strong>Strukturen</strong> zusätzlich (s. Abb. 19, rechts). Bei e<strong>in</strong>er Abdampffläche<br />

mit e<strong>in</strong>em Durchmesser von 500 µm und der Dicke der Maske von 235 µm sowie e<strong>in</strong>em<br />

Maskenabstand von wiederum 100 µm ergibt sich e<strong>in</strong> unscharfer Bereich von ca. 600<br />

nm.<br />

Die reale Divergenz der Kobaltstrahlen wird zwischen den beiden beschriebenen Fällen<br />

zu f<strong>in</strong>den se<strong>in</strong>. Nimmt man den Mittelwert, so sollte jede aufgedampfte Struktur von<br />

e<strong>in</strong>em ca. 300 nm breiten Rand umgeben se<strong>in</strong>, <strong>in</strong> dem die Schichtdicke kont<strong>in</strong>uierlich<br />

auf Null abnehmen wird.<br />

Wichtig ist es nun unmittelbar nach dem Aufdampfen schnell und zuverlässig entscheiden<br />

zu können, ob die <strong>Strukturen</strong> mit maximaler Schärfe aufgebracht wurden. Neben<br />

dem oben erwähnten Effekt können unscharfe <strong>Strukturen</strong> auch durch äußere Störe<strong>in</strong>flüsse<br />

entstehen, was durch das Verrutschen von Maske bzw. Transferstab verursacht<br />

wird. Trotz der Schw<strong>in</strong>gungsdämpfung des UHV-Systems trat dieser Fall häufiger auf.<br />

Im SE-Bild läßt sich diese Unschärfe durch die veränderte Form oder den fehlenden<br />

Kontrast zum Kupfer-Substrat leicht ausmachen.<br />

Für das Erkennen der durch die Abschattungseffekte bed<strong>in</strong>gten Unschärfe kann man<br />

e<strong>in</strong>en dunkel-hell-Umschlag im SE-Kontrast zwischen Kupfer und Kobalt nutzen. Abb.<br />

20 zeigt l<strong>in</strong>ks das SE-Bild e<strong>in</strong>es Co-Stufenkeils auf Cu(001). Zu sehen s<strong>in</strong>d im unteren<br />

Drittel das Kupfersubstrat, im Zentrum die Stufe mit 1 ML mittlerer Bedeckung und<br />

oben mit 3 ML Co. Es ist deutlich der zunächst helle Co-Kontrast für die Monolage<br />

und der dann dunkle für 3 ML Bedeckung zu sehen. Da dieser Effekt auch für andere<br />

Systeme wie z.B. Fe/Cu(001) bekannt ist [127], kann er vermutlich der relativ großen<br />

Rauhigkeit der <strong>Schichten</strong> unterhalb von zwei Monolagen Bedeckung zugeschrieben werden.<br />

Lagenwachstum tritt <strong>in</strong> beiden Systemen erst oberhalb dieser Bedeckung auf. E<strong>in</strong><br />

Austrittsarbeitseffekt kann ebenfalls nicht ausgeschlossen werden.<br />

In der mittleren Aufnahme von Abb. 20 s<strong>in</strong>d unscharf gedampfte, 2 ML dicke Co-<br />

<strong>Strukturen</strong> auf Cu(001) im SE-Bild zu sehen. Deutlich ist der helle Rand der <strong>Strukturen</strong><br />

zu erkennen. In den <strong>Strukturen</strong> ist zu erkennen, das 2 ML Kobalt kaum Kontrast zum<br />

Kupfersubstrat zeigen. Um scharf gedampfte <strong>Strukturen</strong> dieser Dicke auf der Kristallo-

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