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Untersuchung mikromagnetischer Strukturen in dünnen Schichten

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3 EXPERIMENTELLER AUFBAU UND PROBENPRÄPARATION 42<br />

beiden dort vorhandenen Sp<strong>in</strong>detektoren h<strong>in</strong>ter der Optik angebracht. Aus diesem<br />

Grund wurde zwischen Optik und Detektor zusätzlich e<strong>in</strong>e aus zwei zyl<strong>in</strong>der- und<br />

e<strong>in</strong>em trichterförmigen Element bestehende E<strong>in</strong>zell<strong>in</strong>se gesetzt (siehe Abb. 13 rechts,<br />

Abb. 14 im Vordergrund), die den Fokus vom Ausgang der Optik auf den h<strong>in</strong>ter ihr<br />

sitzenden Wolframkristall abbildet. Die für die Fokussierung der Elektronen auf den<br />

Wolframkristall benötigten Versorgungsspannungen dieser drei Elemente wurden mit<br />

SIMION berechnet. E<strong>in</strong>e Optimierung der Geometrie und den e<strong>in</strong>zelnen Potentialen<br />

dieser E<strong>in</strong>zell<strong>in</strong>se ist jedoch noch nötig. Durch Angleichung der Potentiale vornehmlich<br />

der l<strong>in</strong>ks-recht-Quadrupolelemente war es möglich, die Optik auf die neue Geometrie<br />

e<strong>in</strong>zustellen und für die ersten qualitativen Messungen ausreichende Zählraten <strong>in</strong> den<br />

Sekundärelektronenvervielfachern des Detektors zu erzielen.<br />

Aufgrund des größeren Primärstrahlstromes (10nA) und der verbesserten elektronenoptischen<br />

Eigenschaften waren <strong>in</strong> diesen Messungen Meßzeiten von 500 µs pro Bildpunkt<br />

ausreichend, um die magnetischen <strong>Strukturen</strong> auf e<strong>in</strong>er Fe(110)-Oberfläche zu erkennen.<br />

Bei vergleichbarer Bildauflösung (256·256 Bildpunkte) benötigt man für e<strong>in</strong>e Aufnahme,<br />

die im S800 knapp 10 M<strong>in</strong>uten dauert (dort s<strong>in</strong>d es 243·243 Bildpunkte), nur ca. 32<br />

Sekunden. Die Zählraten betrugen bei diesen Messungen 50.000 s−1 je Vervielfacher und<br />

es wurden für Abb. 15 vier Aufnahmen aufsummiert. E<strong>in</strong>e ausführliche Beschreibung<br />

von Rechner und Zubehör bef<strong>in</strong>det sich am Institut [123].<br />

Abbildung 15: Domänenstruktur und Topographie auf e<strong>in</strong>em Fe(110)-Kristall: Im l<strong>in</strong>ken Teilbild ist<br />

die Polarisationskomponente parallel zur vertikalen Kante des Bildes zu sehen, im mittleren diejenige<br />

parallel zur horizontalen Kante. Die Pfeile <strong>in</strong> den Domänen geben die Richtung der Magnetisierung an.<br />

Rechts ist <strong>in</strong> e<strong>in</strong>em SEM-Bild die Oberfläche des Fe(110)-Kristalls zu sehen.<br />

Der Fe(110)–E<strong>in</strong>kristall wurde vor den Aufnahmen durch Ar + -Ionenbeschuß bei<br />

e<strong>in</strong>er Energie von 3 keV von se<strong>in</strong>er Oxidschicht befreit. krz-Eisen hat auf der (110)-

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