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Untersuchung mikromagnetischer Strukturen in dünnen Schichten

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3 EXPERIMENTELLER AUFBAU UND PROBENPRÄPARATION 44<br />

Probenheizung31 erlaubt das Ausheilen der beim Ionenbeschuß enstandenen Defekte<br />

an der Kristalloberfläche. Geheizt wird gleichzeitig mittels Strahlung (ca. 20W) und<br />

Elektronenstoß (ca. 24W), was e<strong>in</strong>e Probentemperatur von ca. 650oC ergibt. Der Fluoreszenzschirm<br />

ermöglicht die Aufnahme von MEED32 -Oszillationen unter Verwendung<br />

der Auger-Elektronenkanone.<br />

Abbildung 16: Querschnittszeichnung durch Präparationsebene 1: In dieser Ebene bef<strong>in</strong>den sich u.a.<br />

e<strong>in</strong> Augeranalysator mit e<strong>in</strong>gebauter Elektronenkanone, e<strong>in</strong>e Ionenkanone und e<strong>in</strong>e Probenheizung.<br />

In der zweiten Ebene (Abb. 17) bef<strong>in</strong>den sich e<strong>in</strong> Kobalt-Ofen, e<strong>in</strong> Helmholtz-<br />

Spulenpaar, e<strong>in</strong> über zwei L<strong>in</strong>earantriebe beweglicher Maskenhalter und e<strong>in</strong> ihm<br />

gegenüber am Fenster außerhalb der Kammer angebrachtes Fernrohr. Der Ofen ist als<br />

wassergekühlter Elektronenstrahlverdampfer ausgeführt und wird über e<strong>in</strong>e im Institut<br />

entwickelte Steuerung betrieben. Diese ermöglicht die Messung und Stabilisierung des<br />

ionisierten Teils des verdampften Kobalts und damit e<strong>in</strong>e hohe Reproduzierbarkeit der<br />

Aufdampfrate. Das Spulenpaar erlaubt die Erzeugung von Magnetfeldern bis zu 160 Oe<br />

für ca. 10 Sekunden. Die E<strong>in</strong>stellung der relativen azimutalen Orientierung von Magnetfeld<br />

und Probenoberfläche erfolgt durch Drehung der Probe auf dem Transferstab und<br />

ist auf ±5o genau. Auf dem Maskenhalter ist e<strong>in</strong> Piezokristall-getriebener Schrittmotor<br />

befestigt, der wiederum e<strong>in</strong> geschlitztes Kupferblech (Schlitzbreite ca. 300 µm) und<br />

e<strong>in</strong> mikrostrukturiertes Siliziumplättchen trägt. Kupferblech und Si-Plättchen können<br />

31Dies ist zum e<strong>in</strong>en für den Probentransfer <strong>in</strong>s Mikroskop nötig, zum anderen ist e<strong>in</strong>e def<strong>in</strong>ierte<br />

Annäherung an die Probe möglich.<br />

32Kurzform für Medium Energy Electron Diffraction“ (Beugung mittelenergetischer Elektronen,<br />

”<br />

siehe z.B. [124, 125]).

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