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VERS UNE MEMOIRE QUANTIQUE AVEC DES IONS PIEGES

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tel-00430795, version 1 - 9 Nov 2009<br />

124 CHAPITRE 5. CHARGEMENT DU PIÈGE<br />

5.2 Renvois et commentaires<br />

5.2.1 Sélectivité spatiale<br />

Page 1 : Let us also mention that, because of its two-photon character, TPPI has the<br />

potential advantage to define a well-localized spatial region for the ion production associated<br />

with the waist of the ionising beam. This facilitates the ion creation at the center of the trap<br />

with an initially low potential energy. In the particular case of our trap (atomic beam spread<br />

of 8 mm on the trap axis), we compared the theoretical performances of TPPI and TSPI (assuming<br />

equivalent ionisation rates) and we found an initial temperature six times lower for<br />

TPPI. More generally, for perfectly collimated atomic beams, the expected initial temperature<br />

is at least two times lower for TPPI than for TSPI.<br />

Un des avantages potentiels de la photoionisation par rapport au bombardement électronique<br />

est la sélectivité spatiale qui permet de produire les ions plus près du centre, c’est à dire avec<br />

une énergie initiale plus faible. La photoionisation TPPI qui nécessite l’absorption quasi<br />

simultanée de deux photons, est encore plus sélective spatialement que la photoionisation<br />

TSPI, et on cherche ici à évaluer le gain de la méthode TPPI à partir du calcul de l’énergie<br />

initiale moyenne des ions créés. En particulier on justifie le facteur six évoqué dans l’article<br />

ainsi que le facteur deux pour des faisceau atomiques collimatés.<br />

Le calcul repose sur l’hypothèse raisonnable que la probabilité de création pour la méthode<br />

TSPI, notée p1 est proportionnelle à l’intensité lumineuse et pour la méthode TPPI la probabilité<br />

p2 est proportionnelle au carré de l’intensité (rappelons que dans cette méthode c’est<br />

l’absorption simultanée des deux photons qui assure l’ionisation de l’atome). On considère<br />

que les faisceaux sont gaussiens de mode TEM(0,0) centrés sur l’axe du piège et focalisés en<br />

son centre. Le système présente donc une symétrie cylindrique et on utilise les coordonnées<br />

usuelles, r la distance à l’axe et z la projection sur l’axe de symétrie ou hauteur. On suppose<br />

que le waist du faisceau w0 est bien plus étroit que le rayon transverse de la zone de<br />

piégeage (cette hypothèse est bien adaptée aux pièges à grand nombre d’ions).DEux longueurs<br />

caractéristiques interviennent dans les expressions des énegies moyennes : la longueur<br />

de Rayleigh zr qui dépend de la focalisation du faisceau lumineux et la longueur 2L de la<br />

zone où les ions sont susceptibles d’être produits et piégés. Cette zone est le recouvrement<br />

spatial entre la zone de confinement et le faisceau atomique et la longueur 2L est donnée par<br />

le minimum entre la longueur axiale du pseudo-potentiel et la largeur du faisceau atomique.<br />

Les expressions de p1 et p2, en fonction des coordonnées sont :<br />

p2(r, z) =<br />

p1(r, z) =<br />

1<br />

πLw 2 (z) e−2r2 /w 2 (z)<br />

2w 2 0<br />

πzrarctan(L/zr)w 4 (z) e−4r2 /w 2 (z)<br />

On a utilisé w2 (z) = w2 0 (1 + (z/zr) 2 ) la largeur du faisceau gaussien, les deux expressions<br />

L +∞ <br />

vérifient la condition de normalisation dz 2πrdr p(r, z) = 1.<br />

−L<br />

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