Estudo de revestimentos cerâmicos sobre substrato metálico obtido

- microscopia óptica (microscópio óptico de luz polarizada, marca LEICA,
modelo DMRXP, AMR/IAE/CTA), para observar as condições gerais do filme
como, por exemplo, falhas nas interfaces (poros, descolamentos);
- analisador de partículas (marca CILAS, modelo 1064, IPEN), para a
determinação da distribuição granulométrica de partículas;
- microscopia eletrônica de varredura (MEV - marca LEO, modelo 435 VPI,
AMR/IAE/CTA) para observação dos pós, materiais sinterizados e, com
melhor resolução, a morfologia dos filmes e falhas nas interfaces entre filmes e
substrato (como a presença de microtrincas, poros, descolamentos);
- difração de raios X (difratômetro de raios X, marca Philips, modelo PW1830,
AMR/IAE/CTA) e de alta resolução angular (difratômetro de raios X de alta
resolução angular, Philips, modelo X’Pert-MRD, LAS/CTE/INPE), com o
objetivo de determinar as fases cristalinas presentes nos pós, sinterizados e
revestimentos;
- perfilometria para mapear a rugosidade da superfície externa do revestimento
(Perthometer S8P, IEAv/CTA);
- microdureza Vickers (microdurômetro, marca Futuretech, modelo FM,
AMR/IAE/CTA), para medição da dureza da seção transversal das diversas
camadas e
- difusividade térmica em função da temperatura (difusivímetro a pulso laser,
LABMAT/ARAMAR/CTMSP).
3.4.1 Determinação da Massa Específica Aparente das Amostras Sinterizadas
A massa específica aparente das amostras sinterizadas foi calculada segundo a
Norma ASTM-C744-74 [114], que se baseia no princípio de Arquimedes, pela equação:
em que:
[ ( ρ × P) −(
ρ × P)
] ( P −P)
ρ=
/
HO
2
S
Ar
PS: peso seco;
Pi: peso imerso na água;
i
S
i
ρAr: massa específica do ar na temperatura do ensaio (g/cm 3 );
ρH2O: massa específica da água na temperatura do ensaio (g/cm 3 ) e
ρ: massa específica da amostra sinterizada (g/cm 3 ).
3.4.2 Estimativa da Massa Específica dos Depósitos
111
(3.3)
A partir dos parâmetros de rede e das concentrações molares é possível estimar a
massa específica teórica dos revestimentos cerâmicos, desconsiderando a presença de
poros e outros defeitos (material policristalino, com alta concentração de defeitos e
pureza química baixa), pela Equação 3.4 [115]: