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Estudo de revestimentos cerâmicos sobre substrato metálico obtido

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microestrutura da Zona 1 <strong>de</strong>vido ao auto-sombreamento, resultando na incorporação <strong>de</strong><br />

poros [39, 40].<br />

Depen<strong>de</strong>ndo da temperatura do <strong>substrato</strong>, a taxa <strong>de</strong> migração dos átomos<br />

adsorvidos para as regiões <strong>de</strong> sombreamento é suficientemente gran<strong>de</strong> para superar a<br />

taxa <strong>de</strong> formação dos vazios durante o crescimento do filme, resultando em uma súbita<br />

mudança estrutural na temperatura <strong>de</strong> transição <strong>de</strong> uma estrutura colunar porosa para<br />

um filme sem vazios.<br />

O mo<strong>de</strong>lo probabilístico sugerido por Yang leva em consi<strong>de</strong>ração que a espécie<br />

a ser adsorvida tem aproximação por impacto com o <strong>substrato</strong> e faz uma análise<br />

difusional por múltiplos caminhos para simular a morfologia superficial e a evolução da<br />

estrutura atômica no interior do filme [39].<br />

Os parâmetros que governam a cinética do processo são o fluxo atômico (taxa <strong>de</strong><br />

<strong>de</strong>posição), ângulo <strong>de</strong> incidência do fluxo, energia cinética do átomo inci<strong>de</strong>nte e<br />

temperatura do <strong>substrato</strong>.<br />

Um método para o encaixe dos átomos é usado para <strong>de</strong>terminar a energia <strong>de</strong><br />

ativação para cada um dos muitos caminhos disponíveis para a difusão. Este método é<br />

capaz <strong>de</strong> <strong>de</strong>terminar o efeito das diversas variáveis <strong>de</strong> processo (orientação do fluxo <strong>de</strong><br />

vapor, taxa <strong>de</strong> <strong>de</strong>posição e temperatura do <strong>substrato</strong>) na morfologia/microestrutura<br />

(<strong>de</strong>nsida<strong>de</strong> <strong>de</strong> empacotamento, rugosida<strong>de</strong> superficial e largura das colunas), permitindo<br />

comparação com vários aspectos do diagrama empírico <strong>de</strong> Movchan, Demchiskim e<br />

Thorton [39].<br />

Como apresentado na Figura 2.14, um átomo inci<strong>de</strong>nte (O) viajando ao longo da<br />

direção (cd), inclinado com o ângulo (α) em relação à normal ao <strong>substrato</strong> irá,<br />

primeiramente, tocar o átomo (F) localizado na posição (f). Pelo mo<strong>de</strong>lo <strong>de</strong> Hen<strong>de</strong>rson<br />

(simulação <strong>de</strong> crescimento bidimensional <strong>de</strong> filme <strong>de</strong>positado via fase vapor com baixa<br />

mobilida<strong>de</strong> do átomo adsorvido, com relaxação instantânea na posição atômica mais<br />

próxima, formada por pelo menos dois outros vizinhos), o átomo irá para o sítio estável<br />

mais próximo (B). Este método resulta em uma baixa <strong>de</strong>nsida<strong>de</strong> <strong>de</strong> empacotamento em<br />

comparação com os resultados experimentais (mesmo em processos <strong>de</strong> <strong>de</strong>posição <strong>de</strong><br />

baixa energia, os átomos carregam uma consi<strong>de</strong>rável energia quando atingem o<br />

<strong>substrato</strong>). Portanto, pela conservação <strong>de</strong> momento o átomo “O” irá se mover até o sítio<br />

(A), apesar da distância OA ser maior que a OB. Esta simples modificação gera<br />

configurações completamente diferentes daquela prevista pelo mo<strong>de</strong>lo <strong>de</strong> Hen<strong>de</strong>rson e<br />

muito mais <strong>de</strong>nsa [41].<br />

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