Estudo de revestimentos cerâmicos sobre substrato metálico obtido

4.5.2 Camada Cerâmica
4.5.2.1 Fases Cristalinas
A Figura 4.28 apresenta um difratograma de raios X realizado sobre a superfície
de um depósito de zircônia com 8% em peso de ítria (amostra cer-04, temperatura do
substrato 1000 o C, taxa de deposição 3,90 µm/kW-h). Pela posição dos picos de difração
(111) e (400) foram calculados os parâmetros de rede da estrutura (a=5,104 Å, c=5,162
Å e relação c/a= 1,011). Pela análise de raios X de alta resolução angular (Figura 4.29) é
possível verificar a posição do pico de difração (400), confirmando que a estrutura do
depósito é tetragonal.
16000
14000
12000
10000
u. a.
8000
6000
4000
2000
0
t (111)
t (200)
10 20 30 40 50 60 70 80
138
t(220)
2 θ (graus)
t (131)
t (222)
t (400)
FIGURA 4.28 - Difratograma de raios X convencional de um depósito de zircônia com
8% em peso de ítria.