Estudo de revestimentos cerâmicos sobre substrato metálico obtido

4.33 Correlação entre tetragonalidade e temperatura do substrato nos filmes de
zircônia com 8% em peso de ítria (composição química dada pelas massas dos
pós para confecção dos alvos). ..............................................................................143
4.34 Influência da quantidade de nióbia e ítria na tetragonalidade de depósitos de
zircônias co-dopadas, temperatura do substrato: aproximadamente de 960 o C
(composição química dada pelas massas dos pós para confecção dos alvos). ......144
4.35 Correlação entre fração molar de nióbia (subtraindo-se fração molar de ítria) e
massa específica teórica dos depósitos de cerâmicas à base de zircônia,
temperatura do substrato: aproximadamente de 960 o C (composição química
dada pelas massas dos pós para confecção dos alvos)...........................................145
4.36 Influência da quantidade de nióbia na massa específica aparente dos depósitos.
Temperatura do substrato: aproximadamente de 960 o C (composição química
dada pelas massas dos pós para confecção dos alvos)...........................................146
4.37 Fractografias por MEV de diversos revestimentos cerâmicos. .............................148
4.38 Fotomicrografia obtida por MEV seção transversal polida de um depósito
cerâmico (amostra cer-07).....................................................................................149
4.39 Resultado das análises por EDX ao longo da seção transversal da camada
cerâmica (amostra cer-06 - 8% em peso de ítria no alvo). ....................................150
4.40 Resultado das análises por EDX ao longo da seção transversal da camada
cerâmica (amostra cer-08 - 7,4% de ítria mais 5,4% de nióbia em peso no alvo).151
4.41 Resultado das análises por EDX ao longo da seção transversal da camada
cerâmica (amostra cer-11 - 8,0 % de ítria mais 15,0 % de nióbia em peso no
alvo).......................................................................................................................151
4.42 Resultado das análises por EDX ao longo da seção transversal da camada
cerâmica (amostra cer-14 - 8,0 % de ítria mais 20,0 % de nióbia em peso no
alvo).......................................................................................................................152
4.43 Influência da quantidade de nióbia e ítria na tetragonalidade de depósitos de
zircônias co-dopadas. Temperatura do substrato aproximadamente de 960 o C
(análise por EDX na seção transversal polida da camada cerâmica). ...................153
4.44 Fotomicrografia obtida por MEV da seção polida de um sistema típico: (1)
camada cerâmica, (2) camada de ligação, (3) substrato. .......................................154
4.45 Perfis de rugosidade da superfície de: (a) substrato polido, (b) camada de
MCrAlY; depósitos cerâmicos de zircônia mais 8% em peso de ítria com (c) 0%
em peso de nióbia, (d) 5% em peso de nióbia, (e) 15% em peso de nióbia e (f)
20 % em peso de nióbia.........................................................................................155
4.46 Fotomicrografia obtida por MEV da superfície da camada de MCrAlY. .............156
4.47 Fotomicrografia obtida por MEV da superfície do revestimento cerâmico. .........156
4.48 Micrografia apresentando impressões de microdureza em uma camada
cerâmica.................................................................................................................157
4.49 Micrografia apresentando impressões de microdureza em uma camada de
MCrAlY.................................................................................................................157
4.50 Correlação entre microdureza Vickers e quantidade de nióbia no revestimento. .158
4.51 Correlação entre microdureza Vickers e a massa específica aparente dos
revestimentos cerâmicos........................................................................................159
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