Estudo de revestimentos cerâmicos sobre substrato metálico obtido

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u. a. 1400 1200 1000 800 600 400 200 Z Y Z Z Y Z Z Z Y Z Y Z Y Z Y 0 10 20 30 40 50 60 70 80 118 Z Y 2 θ (graus) ZZ Z Y Z Z Y FIGURA 4.5- Difratograma de raios X da mistura de pós de zircônia com 8% em peso de ítria. 4.3 Caracterização dos Alvos Sinterizados 4.3.1 Alvos de MCrAlY A sinterização dos alvos de MCrAlY (Figura 4.6) foi realizada em atmosfera de argônio até a temperatura de 950 o C. Dessa temperatura até 1340 o C, a sinterização ocorreu em vácuo de 10 -7 Torr. A adoção de uma pressão positiva de argônio durante uma parte da rampa de aquecimento foi adotada para reduzir possíveis perdas por volatilização do alumínio, que eventualmente não estivesse quimicamente ligado aos outros componentes do alvo, pois este elemento químico apresenta uma alta pressão de vapor. 4.3.1.1 Composição Química Análises semi-quantitativas por EDX indicaram, dentro da precisão dessa técnica, que não ocorreram perdas significativas de alumínio durante a etapa de sinterização (Tabela 4.1). Y Z Y
FIGURA 4.6 - Alvo de MCrAlY sinterizado. TABELA 4.1 - Análise por EDX (% em peso) do pó e do sinterizado de MCrAlY. Al Cr Ni Y Análise química do pó 11,3 31,0 56,3 0,9 EDX do pó 8,9 32,1 58,1 1,0 EDX do sinterizado 10,5 33,3 54,3 1,9 4.3.1.2 Difração de Raios X O difratograma de raios X da superfície polida de um alvo de MCrAlY revela a presença das fases AlNi e AlNi3, além de pequenas quantidades de níquel metálico e de um composto de ítrio (Fig 4.7). u. a. 1400 1200 1000 800 600 400 200 AlNi 3 (100) AlNi (100) AlNi (110) AlNi 3 (111) Y 3 Al 2 (AlO 4 ) 3 Ni 10 20 30 40 50 60 70 80 2 θ (graus) 119 AlNi3 (200) AlNi3 (210) AlNi (211) AlNi 3 (220) FIGURA 4.7 - Difratograma de raios X de alvo de MCrAlY sinterizado.
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