Estudo de revestimentos cerâmicos sobre substrato metálico obtido

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Menor aumento Maior aumento Zircônia + 8% em peso de ítria (TH=0,3777) Zircônia + 8% em peso de ítria (TH=0,4046) Zircônia + 8% em peso de ítria + 10% em peso de nióbia (TH=0,4215) Zircônia + 8% em peso de ítria + 20% em peso de nióbia (TH=0,4265) FIGURA 4.37 - Fractografias por MEV de diversos revestimentos cerâmicos. 148
As imagens obtidas por MEV das seções transversais polidas de depósitos cerâmicos (Figura 4.38) revelam uma estrutura com faixas de tonalidade (linhas horizontais). Provavelmente, estas faixas estão associadas às variações na composição química, que são inerentes ao processo de evaporação de ligas, devido às diferenças de pressão de vapor e temperatura de fusão dos constituintes. FIGURA 4.38 - Fotomicrografia obtida por MEV seção transversal polida de um depósito cerâmico (amostra cer-07). 4.5.2.4 Características Químicas dos Filmes Assim como nos depósitos de MCrAlY, as análises semi-quantitativas realizadas por EDX ao longo da seção transversal da superfície polida de diversos revestimentos cerâmicos indicam um gradiente de composição química. A dispersão nas quantidades dos diversos elementos químicos é relativamente pequena para a amostra que não contém nióbia (Figs. 4.39), o que pode ser verificado pelos baixos valores dos desvios- padrão das diversas análises pontuais realizadas ao longo da seção transversal da amostra. 149
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