Estudo de revestimentos cerâmicos sobre substrato metálico obtido

As imagens obtidas por MEV das seções transversais polidas de depósitos
cerâmicos (Figura 4.38) revelam uma estrutura com faixas de tonalidade (linhas
horizontais). Provavelmente, estas faixas estão associadas às variações na composição
química, que são inerentes ao processo de evaporação de ligas, devido às diferenças de
pressão de vapor e temperatura de fusão dos constituintes.
FIGURA 4.38 - Fotomicrografia obtida por MEV seção transversal polida de um
depósito cerâmico (amostra cer-07).
4.5.2.4 Características Químicas dos Filmes
Assim como nos depósitos de MCrAlY, as análises semi-quantitativas realizadas
por EDX ao longo da seção transversal da superfície polida de diversos revestimentos
cerâmicos indicam um gradiente de composição química. A dispersão nas quantidades
dos diversos elementos químicos é relativamente pequena para a amostra que não
contém nióbia (Figs. 4.39), o que pode ser verificado pelos baixos valores dos desvios-
padrão das diversas análises pontuais realizadas ao longo da seção transversal da
amostra.
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