Estudo de revestimentos cerâmicos sobre substrato metálico obtido

n.[ x.
AYO
+ y.
ANbO
+ ( 1−
x − y).
AZrO
]
1,
5
2,
5
2
ρ =
23 2
(3.4)
6,
02.
10 . a . c
em que:
n: número de cátions na célula unitária (n=4 para uma célula cúbica de face
centrada);
A YO1,
5 : massa atômica da ítria (112,905);
A : massa atômica da nióbia (132,905);
NbO2,
5
A ZrO : massa atômica da zircônia (123,22);
2
x e y: fração molar da ítria e nióbia, respectivamente e
a e c: parâmetros de rede da célula tetragonal da zircônia calculados à partir
dos difratogramas de raios X.
Através da relação entre a massa de material depositado e a geometria do
depósito (espessura x área do substrato), é possível calcular a massa específica aparente
(que considera a presença de poros e outros defeitos) dos revestimentos cerâmicos e
metálicos.
3.4.3 Análise por Difração de Raios X
A técnica de difração de raios X é usada para obter informações sobre a estrutura
cristalina do material. O método tem se apresentado eficiente na identificação e
determinação qualitativa e semi-quantitativa dos compostos cristalinos presentes nos
filmes obtidos por vários processos e materiais.
A análise estrutural de material por difração de raios X baseia-se no estudo do
diagrama de difração produzido pela interferência das reflexões geométricas dos feixes
de radiação monocromática de raios X incidentes sobre a amostra.
Os equipamentos de raios X utilizados foram o difratômetro de raios X, marca
Philips, modelo PW1830 e o difratômetro de raios X de alta resolução angular, marca
Philips, modelo X’Pert-MRD.
O difratômetro PW1830 é equipado com monocromador para obtenção de
radiação Kα de Cu, com λ = 1,54050 Å. No caminho da detecção encontra-se um filtro
de Ni para minimizar a influência dos espalhamentos de segunda ordem e um colimador
com fenda de 1mm, para diminuir a divergência do feixe de raios X. O intervalo de
varredura foi fixado entre 10 e 80 o , com passo de leitura em 0,02 o . A tensão aplicada no
tubo foi de 40 kV e corrente de 20 mA.
O difratômetro de alta resolução X’Pert-MRD é equipado com um goniômetro
PW3050 e foi montado na configuração Bragg-Bretano, com passo de leitura em 2θ de
0,0001 o .
Através dos difratogramas obtidos por estes equipamentos, pode-se indexar e
determinar as distâncias interplanares entre os planos cristalinos de difração e associar a
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