(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi
05.03.2013 • Views
Share Embed Flag

(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi

(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi

(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi

SHOW MORE
SHOW LESS
ePAPER READ
DOWNLOAD ePAPER
ue.anadolu.edu.tr

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

START NOW

9. Ünite - Elektron Temelli Yöntemler <strong>ve</strong> Radyokimyasal Yöntemler<br />

θ θ<br />

θ θ<br />

1912 y›l›nda W.L. Bragg X-›fl›nlar› k›r›n›m›n› inceleyerek, θ aç›s›yla kristal yüzeyine<br />

gelen ›fl›n›n A, X <strong>ve</strong> Y noktalar›ndan saç›lmaya u¤rat›ld›¤›n› <strong>ve</strong> n tam say› olmak<br />

kofluluyla<br />

AX + XY=nλ <strong>ve</strong> AX=XC=dSinθ 9.6<br />

eflitliklerinin, yaz›labilice¤ini gösterdi. Burada d kristal katmanlar› aras›ndaki uzakl›¤›<br />

gösterir. Kristal yüzeyine θ aç›s› ile gelen ›fl›n demetinin olumlu giriflim yapma flart›<br />

nλ=2dSinθ 9.7<br />

eflitli¤i ile gösterilir <strong>ve</strong> bu eflitlik Bragg denklemi olarak bilinir. X-›fl›nlar›n›n kristalden<br />

yans›t›lm›fl olarak gözlenebilmesi için gelifl aç›s›<br />

Sinθ= 9.8<br />

flart›n› yerine getirmelidir. Di¤er aç› olas›l›klar› olumsuz giriflim olarak adland›r›l›r.<br />

Toz k›r›n›m desenlerinin yorumunda, çizgilerin θ <strong>ve</strong> 2θ cinsinden pozisyonlar›<br />

<strong>ve</strong> ba¤›l fliddetleri dikkate al›n›r. Bragg eflitli¤i yard›m›yla d mesafesi kayna¤›n bilinen<br />

dalga boyundan <strong>ve</strong> ölçümün yap›ld›¤› aç› kullan›larak hesaplanabilmektedir.<br />

Kristal düzende her bir katmanda bulunan atomlar›n türü <strong>ve</strong> yans›tma merkezine<br />

ba¤l› olarak çizgi fliddetleri farkl›l›k gösterir. Bu tür analizler yar› deneysel yar› teorik<br />

analizlerdir. Çal›flma sonucu elde edilen k›r›n›m desenleri, Uluslararas› K›r›n›m<br />

Verileri Merkezinde (International Centre For Diffraction Data) bulunan <strong>ve</strong>ri taban›<br />

kullan›larak tan›mlabilir (http://www.icdd.com).<br />

1912 de y›l›nda Von Laue X-›fl›nlar› k›r›n›m› keflfettikten sonra günümüze kadar<br />

birçok alanda yayg›n flekilde kullan›m imkan› bulmufltur. Özellikle tek kristal yap›daki<br />

kat›lar›n üç boyutlu yap›lar›n›n ayd›nlat›lmas›nda kullan›lan en önemli tekniktir.<br />

X-›fl›nlar› tek kristal k›r›n›m› tekni¤i ile atomlar aras› mesafeler, ba¤lanma<br />

aç›lar› <strong>ve</strong> konumlar› hakk›nda kesin bilgiler elde edilir. Ayr›ca, polimer <strong>ve</strong> metallerin<br />

fiziksel özelliklerinin anlafl›lmas›nda önemli bilgiler sa¤lar. X-›fl›nlar› toz k›r›n›m›<br />

yöntemi ise, kat› bir örnekteki bilefliklerin nitel <strong>ve</strong> nicel analizlerinde kullan›lan<br />

en önemli tekniklerden birisidir. Örne¤in, toz bir numunedeki NaBr <strong>ve</strong> NaF<br />

yüzdeleri rahatl›kla tayin edilebilir. X-›fl›nlar› toz k›r›n›m› yönteminin esas›, her<br />

nλ<br />

2d<br />

fiekil 9.11<br />

243<br />

X-›fl›nlar›n›n kristal<br />

yap›da k›r›n›m›

logo

Ürünler

Kaynaklar

Şirketler

Terms of service
Privacy policy
Cookie policy
Cookie settings
Imprint
Change language
Made with love in Switzerland
© 2024 Yumpu.com all rights reserved

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!