(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi
05.03.2013 • Views
Share Embed Flag

(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi

(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi

(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi

SHOW MORE
SHOW LESS
ePAPER READ
DOWNLOAD ePAPER
ue.anadolu.edu.tr

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

START NOW

a b<br />

Bir örnek yüzeyindeki nikel deriflimi yüzeyden derinli¤in bir fonksiyonu SIRA olarak S‹ZDE de¤iflmektedir.<br />

Bu de¤iflimi nicel olarak ortaya koymak için ISS <strong>ve</strong>ya SIMS yöntemlerinden hangisi<br />

kullan›labilir? Neden?<br />

DÜfiÜNEL‹M<br />

Elektron mikroprob (EM)<br />

11. Ünite - Yüzey Analiz <strong>ve</strong> Termal Analiz Yöntemleri<br />

fiekil 11.5<br />

a) Silikon/ MoSi 2<br />

arayüzey<br />

tabakas›nda flor<br />

kaynakl›<br />

kirlenmenin bir<br />

TOF-SIMS derinlik<br />

profil analizi ile<br />

belirlenmesi, b)<br />

metoprolol<br />

bilefli¤inin pozitif<br />

SIMS spektrumu<br />

(“Undergraduate<br />

Instrumental<br />

Analysis” isimli<br />

kaynaktan<br />

yararlan›larak<br />

düzenlenmifltir)<br />

Elektron mikroprob (EM) <strong>ve</strong>ya elektron prob mikroanaliz (EPMA) yöntemi, 5-30<br />

keV enerjili bir elektron demetiyle etkilefltirilen kat› örnek yüzeyinden yay›lan 0,1-<br />

15 keV enerjili karakteristik X-›fl›nlar›n› analiz ederek yüzeyin elementel bileflimine<br />

iliflkin nitel <strong>ve</strong> nicel sonuçlar <strong>ve</strong>ren bir yöntemdir. Hareket ettirilebilen bir tabla<br />

üzerine konan örnek üzerindeki etkileflim bölgesi bir optik mikroskop yard›m›yla<br />

belirlenir. Elekron kayna¤› olarak ›s›t›lm›fl tungsten katot kullan›l›r <strong>ve</strong> h›zland›r›c›<br />

katot taraf›ndan h›zland›r›lan elektron demeti elektromanyetik mercek sistemiyle<br />

örnek üzerine 0,1-1µm çap›nda odaklan›r. Tüm sistem analiz boyunca bas›nç<br />

yaklafl›k 10-5 SORU<br />

SORU<br />

D‹KKAT<br />

D‹KKAT<br />

SIRA S‹ZDE SIRA S‹ZDE<br />

AMAÇLARIMIZ AMAÇLARIMIZ <br />

torr civar›nda olacak flekilde vakumlanmal›d›r. SIRA Elde S‹ZDE edilen X-›fl›n›,<br />

SIRA S‹ZDE<br />

dalga boyu da¤›l›ml› <strong>ve</strong>ya enerji da¤›l›ml› bir spektrometre K kullan›larak ‹ T A P analiz<br />

K ‹ T A P<br />

edilir. Modern EM cihazlar›nda elektron demetinin oluflturulma süreci, örnek tutu-<br />

DÜfiÜNEL‹M<br />

cu tablan›n hareketi, spektrometre, data toplama <strong>ve</strong> iflleme süreçleri bilgisayar<br />

DÜfiÜNEL‹M<br />

kontrollü olarak gerçeklefltirilmektedir (fiekil 11.6).<br />

TELEV‹ZYON<br />

SORU<br />

TELEV‹ZYON<br />

SORU<br />

Örnek yüzeyine çarpan elektron demetinin çap›, elde edilen görüntünün D‹KKAT<br />

‹NTERNET çözünürlü¤üne<br />

do¤rudan etki eder.<br />

D‹KKAT<br />

‹NTERNET<br />

SIRA S‹ZDE SIRA S‹ZDE<br />

AMAÇLARIMIZ <br />

K ‹ T A P<br />

TELEV‹ZYON<br />

2<br />

301<br />

SIRA S‹ZDE<br />

DÜfiÜNEL‹M<br />

AMAÇLARIMIZ<br />

K ‹ T A P<br />

TELEV‹ZYON<br />

‹NTERNET ‹NTERNET

logo

Ürünler

Kaynaklar

Şirketler

Terms of service
Privacy policy
Cookie policy
Cookie settings
Imprint
Change language
Made with love in Switzerland
© 2024 Yumpu.com all rights reserved

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!