(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi
(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi
(UV) ve Görünür Bölge Moleküler Absorpsiyon Spektroskopisi
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
322<br />
Aletli Analiz<br />
Kendimizi S›nayal›m Yan›t Anahtar›<br />
1. a Yan›t›n›z yanl›fl ise “Girifl” bölümünü yeniden<br />
okuyunuz.<br />
2. b Yan›t›n›z yanl›fl ise “Kat› Yüzeyinin Spektroskopik<br />
<strong>ve</strong> Mikroskopik Yöntemler ile Analizi” bölümünü<br />
yeniden okuyunuz.<br />
3. c Yan›t›n›z yanl›fl ise “Kat› Yüzeyinin Spektroskopik<br />
<strong>ve</strong> Mikroskopik Yöntemler ile Analizi” bölümünü<br />
yeniden okuyunuz.<br />
4. e Yan›t›n›z yanl›fl ise “Kat› Yüzeyinin Spektroskopik<br />
<strong>ve</strong> Mikroskopik Yöntemler ile Analizi” bölümünü<br />
yeniden okuyunuz.<br />
5. d Yan›t›n›z yanl›fl ise “Kat› Yüzeyinin Spektroskopik<br />
<strong>ve</strong> Mikroskopik Yöntemler ile Analizi” bölümünü<br />
yeniden okuyunuz.<br />
6. e Yan›t›n›z yanl›fl ise “Elektron Mikroprob” bölümünü<br />
yeniden okuyunuz.<br />
7. b Yan›t›n›z yanl›fl ise “Taramal› Tünelleme Mikroskopi”<br />
<strong>ve</strong> “Atomik Kuv<strong>ve</strong>t Mikroskopi” bölümlerini<br />
yeniden okuyunuz.<br />
8. d Yan›t›n›z yanl›fl ise “Taramal› Elektron Mikroskopi”<br />
bölümünü yeniden okuyunuz.<br />
9. c Yan›t›n›z yanl›fl ise “Termal Analiz Yöntemleri”<br />
bölümünü yeniden okuyunuz.<br />
10. e Yan›t›n›z yanl›fl ise “Termogravimetrik Analiz”<br />
bölümünü yeniden okuyunuz.<br />
S›ra Sizde Yan›t Anahtar›<br />
S›ra Sizde 1<br />
Birincil demet iyonunun kütlesinin, çarpt›¤› yüzey atomunun<br />
kütlesinden büyük olmas› durumunda E S /E 0<br />
oran› negatif olacakt›r. Bu nedenle yöntem, birincil demet<br />
iyonunun kütle numaras›ndan küçük olan elementlerin<br />
tayininde kullan›lamaz.<br />
S›ra Sizde 2<br />
ISS, yüzeydeki tek tabakaya iliflkin oldukça duyarl› sonuçlar<br />
<strong>ve</strong>ren bir yüzey analiz tekni¤idir. Ancak, bu yöntemle<br />
derinlik profil analizi yapmak mümkün olmamaktad›r.<br />
Oysa dinamik SIMS yöntemiyle, kat› yüzeyinden<br />
50-100 Å’e kadar olan derinlik profil analizleri baflar›yla<br />
yap›labilmektedir.<br />
S›ra Sizde 3<br />
Esnek saç›lma, elektronlar›n ortalama kinetik enerjilerinde<br />
bir de¤iflmeye sebep olmazken, esnek olmayan saç›lma<br />
sonucu elektronlar enerjilerinin bir k›sm›n› çarp›flt›klar›<br />
atoma <strong>ve</strong>ya çevreye ›s› olarak aktararak kaybederler.<br />
S›ra Sizde 4<br />
Kat› maddeler, bulunduklar› atmosferik koflullara ba¤l›<br />
olarak yüzeylerinde oksijen, azot, karbondioksit <strong>ve</strong>ya<br />
nem adsorbe etmifl olabilirler. Yüzeyin bu tür moleküller<br />
taraf›ndan kirletilmesi, tüm yüzey analiz yöntemleri<br />
için istenmeyen bir durumdur. Bu durumun önüne geçebilmek<br />
<strong>ve</strong> örnek yüzeyini temizleyebilmek için en s›k<br />
kullan›lan yöntemlerden biri vakumlamad›r. Bu nedenle,<br />
günümüzde kullan›lan bir çok spektroskopik <strong>ve</strong> mikroskopik<br />
yüzey analiz cihaz›, 10 -8 -10 -9 Pa bas›nç de¤erlerine<br />
inebilen son derece yüksek vakum kapasiteli sistemler<br />
içermektedir.<br />
S›ra Sizde 5<br />
Taramal› prob mikroskopik yöntemler (STM <strong>ve</strong> AFM),<br />
kullan›c›ya farkl› atmosferik ortamlarda <strong>ve</strong> s›cakl›k aral›klar›nda<br />
çal›flabilme imkan› sunmaktad›r. Bu durum<br />
özellikle biyolojik örneklerin do¤al ortamlar›nda incelenebilmeleri<br />
konusunda önemli bir avantaj sa¤lamaktad›r.<br />
Di¤er yandan bir taramal› elektron mikroskobu<br />
ile mutlaka vakumlanm›fl bir ortamda çal›fl›lmal›d›r.<br />
S›ra Sizde 6<br />
Polimerler için karakteristik bir özellik olan cams› geçifl,<br />
bir ›s› al›fl<strong>ve</strong>rifliyle gerçekleflmedi¤inden DTA <strong>ve</strong>ya<br />
DSC e¤rilerinde bir pik olarak gözlenmez.<br />
S›ra Sizde 7<br />
Termogravimetrik analiz yöntemiyle sadece kütle de¤iflimi<br />
içeren fiziksel <strong>ve</strong> kimyasal de¤iflim süreçleri incelenebildi¤inden,<br />
örne¤e iliflkin elde edilebilecek bilgiler<br />
DTA <strong>ve</strong> DSC yöntemlerinden elde edilenlere göre<br />
daha s›n›rl›d›r.
Change language